Fault diagnosis of analog circuit based on a second map SVDD (Englisch)
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In:
Analog Integrated Circuits and Signal Processing
;
85
, 3
;
395-404
;
2015
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:Fault diagnosis of analog circuit based on a second map SVDD
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Beteiligte:
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Erschienen in:Analog Integrated Circuits and Signal Processing ; 85, 3 ; 395-404
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Springer US
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Erscheinungsort:New York
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Erscheinungsdatum:27.06.2015
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Format / Umfang:10 pages
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 85, Ausgabe 3
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Fast statistical analysis of nonlinear analog circuits using model order reductionAridhi, Henda / Zaki, Mohamed H. / Tahar, Sofiène et al. | 2015
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Fault diagnosis of analog circuit based on a second map SVDDJiang, Yuanyuan / Wang, Youren / Luo, Hui et al. | 2015
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A rigorous peeling algorithm for direct parameter extraction procedure of HBT small-signal equivalent circuitJincan, Zhang / Bo, Liu / Leiming, Zhang / Ligong, Sun / Jinchan, Wang / Lu, Song et al. | 2015
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