1-GRad-TID Effects in 28-nm Device Study for Rad-Hard Analog Design (Englisch)
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In:
Next-Generation ADCs, High-Performance Power Management, and Technology Considerations for Advanced Integrated Circuits
;
299-315
;
2019
- Aufsatz/Kapitel (Buch) / Elektronische Ressource
-
Titel:1-GRad-TID Effects in 28-nm Device Study for Rad-Hard Analog Design
-
Beteiligte:Matteis, Marcello ( Autor:in ) / Resta, F. ( Autor:in ) / Pipino, A. ( Autor:in ) / Fary, F. ( Autor:in ) / Mattiazzo, S. ( Autor:in ) / Enz, C. ( Autor:in ) / Baschirotto, A. ( Autor:in )
-
Erschienen in:
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Springer International Publishing
-
Erscheinungsort:Cham
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Erscheinungsdatum:25.10.2019
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Format / Umfang:17 pages
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ISBN:
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DOI:
-
Medientyp:Aufsatz/Kapitel (Buch)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
-
Schlagwörter:
-
Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis E-Book
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