Atomic resolution in dynamic force microscopy across steps on Si(1 1 1)7×7 (Englisch)
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In:
Zeitschrift für Physik B Condensed Matter
;
100
, 2
;
165-167
;
1996
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:Atomic resolution in dynamic force microscopy across steps on Si(1 1 1)7×7
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Beteiligte:Lüthi, R. ( Autor:in ) / Meyer, E. ( Autor:in ) / Bammerlin, M. ( Autor:in ) / Baratoff, A. ( Autor:in ) / Lehmann, T. ( Autor:in ) / Howald, L. ( Autor:in ) / Gerber, Ch. ( Autor:in ) / Güntherodt, H.-J. ( Autor:in )
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Erschienen in:Zeitschrift für Physik B Condensed Matter ; 100, 2 ; 165-167
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Springer-Verlag
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Erscheinungsort:New York
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Erscheinungsdatum:01.03.1996
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Format / Umfang:3 pages
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 100, Ausgabe 2
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Atomic resolution in dynamic force microscopy across steps on Si(1 1 1)7×7Lüthi, R. / Meyer, E. / Bammerlin, M. / Baratoff, A. / Lehmann, T. / Howald, L. / Gerber, Ch. / Güntherodt, H.-J. et al. | 1996
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