SRAM Cell Stability: Definition, Modeling and Testing (Englisch)
- Neue Suche nach: Pavlov, Andrei
- Neue Suche nach: Sachdev, Manoj
- Neue Suche nach: Pavlov, Andrei
- Neue Suche nach: Sachdev, Manoj
In:
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
;
39-77
;
2008
-
ISSN:
- Aufsatz/Kapitel (Buch) / Elektronische Ressource
-
Titel:SRAM Cell Stability: Definition, Modeling and Testing
-
Beteiligte:Pavlov, Andrei ( Autor:in ) / Sachdev, Manoj ( Autor:in )
-
Erschienen in:Frontiers In Electronic Testing ; 40 ; 39-77
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Springer Netherlands
-
Erscheinungsort:Dordrecht
-
Erscheinungsdatum:01.01.2008
-
Format / Umfang:39 pages
-
ISBN:
-
ISSN:
-
DOI:
-
Medientyp:Aufsatz/Kapitel (Buch)
-
Format:Elektronische Ressource
-
Sprache:Englisch
-
Schlagwörter:
-
Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis E-Book
Die Inhaltsverzeichnisse werden automatisch erzeugt und basieren auf den im Index des TIB-Portals verfügbaren Einzelnachweisen der enthaltenen Beiträge. Die Anzeige der Inhaltsverzeichnisse kann daher unvollständig oder lückenhaft sein.
- 1
-
Introduction and MotivationPavlov, Andrei / Sachdev, Manoj et al. | 2008
- 13
-
SRAM Circuit Design and OperationPavlov, Andrei / Sachdev, Manoj et al. | 2008
- 39
-
SRAM Cell Stability: Definition, Modeling and TestingPavlov, Andrei / Sachdev, Manoj et al. | 2008
- 79
-
Traditional SRAM Fault Models and Test PracticesPavlov, Andrei / Sachdev, Manoj et al. | 2008
- 103
-
Techniques for Detection of SRAM Cells with Stability FaultsPavlov, Andrei / Sachdev, Manoj et al. | 2008
- 159
-
Soft Errors in SRAMs: Sources, Mechanisms and Mitigation TechniquesPavlov, Andrei / Sachdev, Manoj et al. | 2008