Multi-Probe Characterization of 1D and 2D Nanostructures Assembled on Ge(001) Surface by Gold Atom Deposition and Annealing (Englisch)
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In:
Atomic Scale Interconnection Machines
: Proceedings of the 1st AtMol European Workshop Singapore 28th-29th June 2011
;
Kapitel: 11
;
141-152
;
2012
- Aufsatz/Kapitel (Buch) / Elektronische Ressource
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Titel:Multi-Probe Characterization of 1D and 2D Nanostructures Assembled on Ge(001) Surface by Gold Atom Deposition and Annealing
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Weitere Titelangaben:Advances in Atom and Single Molecule Machines
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Beteiligte:Joachim, Christian ( Herausgeber:in ) / Wojtaszek, M. ( Autor:in ) / Kolmer, M. ( Autor:in ) / Godlewski, S. ( Autor:in ) / Budzioch, J. ( Autor:in ) / Such, B. ( Autor:in ) / Krok, F. ( Autor:in ) / Szymonski, M. ( Autor:in )
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Erschienen in:Atomic Scale Interconnection Machines : Proceedings of the 1st AtMol European Workshop Singapore 28th-29th June 2011 ; Kapitel: 11 ; 141-152
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Verlag:
- Neue Suche nach: Springer Berlin Heidelberg
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Erscheinungsort:Berlin, Heidelberg
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Erscheinungsdatum:21.04.2012
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Format / Umfang:12 pages
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ISBN:
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz/Kapitel (Buch)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis E-Book
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High Precision Local Electrical Probing: Potential and Limitations for the Analysis of Nanocontacts and NanointerconnectsGuenther, B. / Maier, M. / Koeble, J. / Bettac, A. / Matthes, F. / Schneider, C. M. / Feltz, A. et al. | 2012
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The DUF Project: A UHV Factory for Multi-Interconnection of a Molecule Logic Gates on Insulating SubstrateMartrou, D. / Guiraud, L. / Laloo, R. / Pecassou, B. / Abeilhou, P. / Guillermet, O. / Dujardin, E. / Gauthier, S. / Polesel Maris, J. / Venegas, M. et al. | 2012
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Challenges and Advances in Instrumentation of UHV LT Multi-Probe SPM SystemWang, Zhouhang et al. | 2012
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Atomically Precise Manufacturing: The Opportunity, Challenges, and ImpactRandall, John N. / Von Ehr, James R. / Ballard, Joshua / Owen, James / Saini, Rahul / Fuchs, Ehud / Xu, Hai / Chen, Shi et al. | 2012
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Multi-Probe Characterization of 1D and 2D Nanostructures Assembled on Ge(001) Surface by Gold Atom Deposition and AnnealingWojtaszek, M. / Kolmer, M. / Godlewski, S. / Budzioch, J. / Such, B. / Krok, F. / Szymonski, M. et al. | 2012
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Nanometer-Scale Four-Point Probe Resistance Measurements of Individual Nanowires by Four-Tip STMHasegawa, S. / Hirahara, T. / Kitaoka, Y. / Yoshimoto, S. / Tono, T. / Ohba, T. et al. | 2012
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Silicon Surface Conductance Investigated Using a Multiple-Probe Scanning Tunneling MicroscopeZikovsky, Janik / Salomons, Mark H. / Dogel, Stanislav A. / Wolkow, Robert A. et al. | 2012
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Atomic-Scale Devices in Silicon by Scanning Tunneling MicroscopyMiwa, J. A. / Simmons, M. Y. et al. | 2012
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Electronic Transport on the NanoscaleBobisch, C. A. / Bernhart, A. M. / Kaspers, M. R. / Cottin, M. C. / Schaffert, J. / Möller, R. et al. | 2012
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