X-ray line profile analysis—An ideal tool to quantify structural parameters of nanomaterials (Englisch)
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In:
JOM
;
63
, 7
;
61-70
;
2011
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:X-ray line profile analysis—An ideal tool to quantify structural parameters of nanomaterials
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Beteiligte:Kerber, Michael B. ( Autor:in ) / Zehetbauer, Michael J. ( Autor:in ) / Schafler, Erhard ( Autor:in ) / Spieckermann, Florian C. ( Autor:in ) / Bernstorff, Sigrid ( Autor:in ) / Ungar, Tamas ( Autor:in )
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Erschienen in:JOM ; 63, 7 ; 61-70
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Verlag:
- Neue Suche nach: Springer US
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Erscheinungsort:Boston
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Erscheinungsdatum:01.07.2011
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Format / Umfang:10 pages
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 63, Ausgabe 7
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Characterization of creep and creep damage by in-situ microtomographyBorbély, András / Dzieciol, Krzysztof / Sket, Federico / Isaac, Augusta / Michiel, Marco / Buslaps, Thomas / Kaysser-Pyzalla, Anke R. et al. | 2011
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