Event driven analog modeling for the verification of PLL frequency synthesizers (Englisch)
- Neue Suche nach: Wang, Yifan
- Neue Suche nach: Van-Meersbergen, C.
- Neue Suche nach: Groh, H.W.
- Neue Suche nach: Heinen, S.
- Neue Suche nach: Wang, Yifan
- Neue Suche nach: Van-Meersbergen, C.
- Neue Suche nach: Groh, H.W.
- Neue Suche nach: Heinen, S.
In:
BMAS, IEEE International Behavioral Modeling and Simulation Workshop, 2009
;
25-30
;
2009
-
ISBN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
-
Titel:Event driven analog modeling for the verification of PLL frequency synthesizers
-
Beteiligte:Wang, Yifan ( Autor:in ) / Van-Meersbergen, C. ( Autor:in ) / Groh, H.W. ( Autor:in ) / Heinen, S. ( Autor:in )
-
Erschienen in:
-
Verlag:
- Neue Suche nach: IEEE Operations Center
-
Erscheinungsort:Piscataway
-
Erscheinungsdatum:2009
-
Format / Umfang:6 Seiten, 13 Quellen
-
ISBN:
-
DOI:
-
Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
-
Format:Print
-
Sprache:Englisch
-
Schlagwörter:
-
Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis Konferenzband
Die Inhaltsverzeichnisse werden automatisch erzeugt und basieren auf den im Index des TIB-Portals verfügbaren Einzelnachweisen der enthaltenen Beiträge. Die Anzeige der Inhaltsverzeichnisse kann daher unvollständig oder lückenhaft sein.
- 1
-
Behavioral modeling of solute tracking in microfluidicsZeng, Y. / Azizi, F. / Mastrangelo, C. H. et al. | 2009
- 7
-
Virtual skin: a behavioral approach helps verificationNicholle, Benjamin / Legendre, Arnaud / Ferrero, Louis / Zastrow, Leonhard et al. | 2009
- 13
-
VHDL-AMS modeling of adaptive electrostatic harvester of vibration energy with dual-output DC-DC converterDudka, Andrii / Galayko, Dimitri / Basset, Philippe et al. | 2009
- 19
-
VHDL-AMS behavioural modelling of a CMUT elementFrew, Samuel / Najar, Hadi / Cretu, Edmond et al. | 2009
- 25
-
Event driven analog modeling for the verification of PLL frequency synthesizersWang, Yifan / Van-Meersbergen, Christoph / Groh, Hans-Werner / Heinen, Stefan et al. | 2009
- 31
-
Analog behavior refinement in system centric modelingZaidi, Yaseen / Grimm, Christoph / Haase, Jan et al. | 2009
- 37
-
System level modeling of smart power switches using SystemC-AMS for digital protection concept verificationKreuter, Hans-Peter / Kosel, Vladimir / Glavanovics, Michael / Illing, Robert et al. | 2009
- 43
-
Simulation-based hierarchical sizing and biasing of analog firm IPsJavid, Farakh / Iskander, Ramy / Louerat, Marie-Minerve et al. | 2009
- 49
-
AMS static voltage level checkSilva, Marcelo et al. | 2009
- 54
-
An enhanced macromodeling approach for differential output driversTing Zhu, / Franzon, Paul D et al. | 2009
- 60
-
Analysis and extraction of parametric variation effects on microelectrofluidics-based biochipsBao Liu, et al. | 2009
- 66
-
Mixed signal system design verification accelerated with detector-based diagnostic methodDammers, D. / Domingues, C. / Schollan, D. / Vosskamper, L. M. et al. | 2009
- 73
-
Powering embedded CMOS logic on MEMS-based micro-robotsCho, Jung H. / Arnold, Mark G. et al. | 2009
- 78
-
Mixed-signal test development using open standard modeling and description languagesLu, Ping / Glaser, Daniel / Uygur, Guerkan / Weichslgartner, Susanne / Helmreich, Klaus / Lechner, Armin et al. | 2009
- 84
-
Full system verification of CAN network at high speed transmission rate using VHDL-AMSNguyen, Thang / Duregger, Martin / Pelz, Georg et al. | 2009
- 90
-
Fast and waveform independent characterization of current source modelsKnoth, Christoph / Kleeberger, Veit B. / Nordholz, Petra / Schlichtmann, Ulf et al. | 2009
- 96
-
A modeling methodology for verifying functionality of a wireless chipChen, Jesse E. et al. | 2009
- 102
-
Prediction of Harmonic Distortion in ADCs using dynamic Integral Non-Linearity modelFraz, H. / Bjorsell, Niclas / Kenney, J.S. / Sperlich, R. et al. | 2009
- 108
-
Supporting dimensional analysis in SystemC-AMSMaehne, Torsten / Vachoux, Alain et al. | 2009
- 114
-
VHDL-AMS Statistical Analysis for marginal probabilitiesHaase, Joachim / Sohrmann, Christoph et al. | 2009
- 120
-
The PRAISE approach for accelerated transient analysis applied to wire modelsZaum, Daniel / Hoelldampf, Stefan / Olbrich, Markus / Barke, Erich / Neumann, Ingmar / Schmidt, Sebastian et al. | 2009
- c1
-
Covers| 2009
- i
-
Title pages| 2009