Size effects on tensile and fatigue behaviour of polycrystalline metal foils at the micrometer scale (Englisch)
- Neue Suche nach: Dai, C.Y.
- Neue Suche nach: Zhang, G.P.
- Neue Suche nach: Yan, C.
- Neue Suche nach: Dai, C.Y.
- Neue Suche nach: Zhang, G.P.
- Neue Suche nach: Yan, C.
In:
Philosophical Magazine
;
91
, 4-6
;
932-945
;
2011
-
ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
-
Titel:Size effects on tensile and fatigue behaviour of polycrystalline metal foils at the micrometer scale
-
Beteiligte:
-
Erschienen in:Philosophical Magazine ; 91, 4-6 ; 932-945
-
Verlag:
-
Erscheinungsdatum:2011
-
Format / Umfang:14 Seiten, 10 Bilder, 34 Quellen
-
ISSN:
-
DOI:
-
Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
-
Format:Print
-
Sprache:Englisch
-
Schlagwörter:
-
Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 91, Ausgabe 4-6
Zeige alle Jahrgänge und Ausgaben
Die Inhaltsverzeichnisse werden automatisch erzeugt und basieren auf den im Index des TIB-Portals verfügbaren Einzelnachweisen der enthaltenen Beiträge. Die Anzeige der Inhaltsverzeichnisse kann daher unvollständig oder lückenhaft sein.
- 491
-
Response of fcc metals and L1(2) and D022 type trialuminides to uniaxial loading along [100] and [001]: ab initio DFT calculationsJahnatek, M. / Krajci, M. / Hafner, J. et al. | 2011
- 517
-
Copper indium diselenide: Crystallography and radiation-induced dislocation loopsHinks, J.A. / Donnelly, S.E. et al. | 2011
- 574
-
Laser processing of bulk Al-12Si alloy: Influence of microstructure on thermal propertiesEspana, Felix A. / Balla, Vamsi Krishna / Bandyopüadhyay, Amit et al. | 2011
- 657
-
A new micromechanics-based scale transition model for the strain-rate sensitive behavior of nanocrystalline materialsSchillebeeckx, C. / Berbenni, S. / Capolungo, L. / Cherkaoui, M. et al. | 2011
- 908
-
Control of dynamic recovery and strength by subgrain boundaries - insights from stress-change tests on CaF2 single crystalsMekala, S. / Eisenlohr, P. / Blum, W. et al. | 2011
- 932
-
Size effects on tensile and fatigue behaviour of polycrystalline metal foils at the micrometer scaleDai, C.Y. / Zhang, G.P. / Yan, C. et al. | 2011