Elektro-optische Eigenschaften von LCDs messtechnisch erfassen (Deutsch)
- Neue Suche nach: Becker, M.
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In:
Qualität und Zuverlässigkeit
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35
, 6
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329-333
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1990
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ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
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Titel:Elektro-optische Eigenschaften von LCDs messtechnisch erfassen
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Weitere Titelangaben:Acquisition of the electro-optical properties of LCD's by measurement
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Beteiligte:Becker, M. ( Autor:in )
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Erschienen in:Qualität und Zuverlässigkeit ; 35, 6 ; 329-333
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Verlag:
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Erscheinungsdatum:1990
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Format / Umfang:5 Seiten, 6 Bilder, 4 Quellen
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ISSN:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Print
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Sprache:Deutsch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 35, Ausgabe 6
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Die Rolle der Qualitaetssicherung im InnovationsprozessKraft, W. et al. | 1990
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Einsatz der digitalen Bildanalyse fuer die Struktur- und GefuegeanalyseSteipe, M. et al. | 1990
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Elektro-optische Eigenschaften von LCDs messtechnisch erfassenBecker, M. et al. | 1990
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Beruehrungslose elektrische Defektpruefung mit der mikrowellenoptischen RastermikroskopieBetz, G. et al. | 1990
- 339
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Pruefen von diamantgedrehten asphaerischen FlaechenKoch, K. et al. | 1990
- 343
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Tombstoningeffekt bei Chip-BauelementenGottschling, W. / Hori, Y. et al. | 1990