Röntgen- und photoelektronenspektroskopische Untersuchungen von Elektrodenmaterialien (Deutsch)
- Neue Suche nach: Hallmeier, K.H.
- Neue Suche nach: Szargan, R.
- Neue Suche nach: Meisel, A.
- Neue Suche nach: Müller, J.
- Neue Suche nach: Hallmeier, K.H.
- Neue Suche nach: Szargan, R.
- Neue Suche nach: Meisel, A.
- Neue Suche nach: Müller, J.
In:
Wissenschaftliche Zeitschrift der Technischen Hochschule Ilmenau
;
37
, 4
;
25-32
;
1991
-
ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
-
Titel:Röntgen- und photoelektronenspektroskopische Untersuchungen von Elektrodenmaterialien
-
Weitere Titelangaben:X-ray and photoelectron spectrometric investigations of electrode materials
-
Beteiligte:Hallmeier, K.H. ( Autor:in ) / Szargan, R. ( Autor:in ) / Meisel, A. ( Autor:in ) / Müller, J. ( Autor:in )
-
Erschienen in:Wissenschaftliche Zeitschrift der Technischen Hochschule Ilmenau ; 37, 4 ; 25-32
-
Verlag:
-
Erscheinungsdatum:1991
-
Format / Umfang:8 Seiten, 3 Bilder, 2 Tabellen, 14 Quellen
-
ISSN:
-
Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
-
Format:Print
-
Sprache:Deutsch
-
Schlagwörter:
-
Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 37, Ausgabe 4
Zeige alle Jahrgänge und Ausgaben
Die Inhaltsverzeichnisse werden automatisch erzeugt und basieren auf den im Index des TIB-Portals verfügbaren Einzelnachweisen der enthaltenen Beiträge. Die Anzeige der Inhaltsverzeichnisse kann daher unvollständig oder lückenhaft sein.
- 17
-
XPS-Analyse von Adsorptionskomplexen auf Pyrit-OberflächenSzargan, R. / Karthe, S. / Suonien, E. et al. | 1991
- 25
-
Röntgen- und photoelektronenspektroskopische Untersuchungen von ElektrodenmaterialienHallmeier, K.H. / Szargan, R. / Meisel, A. / Müller, J. et al. | 1991
- 33
-
Veränderung der oberflächennahen Zusammensetzung beim Sputtern und deren physikalische UrsachenProcop, M. et al. | 1991
- 41
-
Tiefenprofilanalyse an isolierenden Schichten mittels zerstörender und zerstörungsfreier VerfahrenFinster, J. / Reich, T. / Krüger, J. et al. | 1991
- 51
-
Tiefenprofilanalyse an Bariumtitanat-Einkristallen und -KeramikenBerndt, K. / Rammelt, B. / Grieser, O. / Heichler, W. et al. | 1991
- 67
-
Quantitative Oberflächenanalyse durch erzwungenes zweidimensionales SchichtwachstumMeinel, K. / Klaua, M. et al. | 1991
- 75
-
Quantitative AES analysis of silicides by differential and direct spectraBender, H. et al. | 1991
- 83
-
AES-Untersuchungen zum Barriereverhalten von TiW-SchichtenRößler, H. et al. | 1991
- 107
-
Vergleich elektronenspektroskopischer Methoden zur Tiefenprofilanalyse mit hoher TiefenauflösungStreubel, P. / Chasse, T. / Karthe, S. / Natzeck, C. / Nitsche, A. et al. | 1991