Prägen von Leiterstrukturen als Beitrag neuartiger Entwärmungskonzepte in der Leiterplattentechnik (Deutsch)
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In:
Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - EBL 2008
;
6
;
2008
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ISBN:
- Aufsatz (Konferenz) / Elektronische Ressource
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Titel:Prägen von Leiterstrukturen als Beitrag neuartiger Entwärmungskonzepte in der Leiterplattentechnik
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Beteiligte:Schmieder, Kai ( Autor:in ) / Weise, Kathrin ( Autor:in ) / Hoffmann, Thomas ( Autor:in ) / Kleinig, Olaf ( Autor:in ) / Edelmann, Jan ( Autor:in ) / Burkhardt, Thomas ( Autor:in ) / Meichsner, Gunnar ( Autor:in ) / Schubert, Andreas ( Autor:in )
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Kongress:Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - EBL 2008 - Systemintegration und Zuverlässigkeit - 4. DVS/GMM-Fachtagung ; 2008 ; Fellbach
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Erschienen in:GMM-Fachbericht ; 55 ; 6
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Verlag:
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Erscheinungsdatum:01.01.2008
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Format / Umfang:6 pages
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ISBN:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Deutsch
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis Konferenzband
Die Inhaltsverzeichnisse werden automatisch erzeugt und basieren auf den im Index des TIB-Portals verfügbaren Einzelnachweisen der enthaltenen Beiträge. Die Anzeige der Inhaltsverzeichnisse kann daher unvollständig oder lückenhaft sein.
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Fe – FeO Nanoschichtsysteme für EMV AnwendungenGräbner, Frank / Kallmeyer, Ch. / Hungsberg, Axel / Hirsch, Dietmar / Herrmann, R. / Winkler et al. | 2008
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Prägen von Leiterstrukturen als Beitrag neuartiger Entwärmungskonzepte in der LeiterplattentechnikSchmieder, Kai / Weise, Kathrin / Hoffmann, Thomas / Kleinig, Olaf / Edelmann, Jan / Burkhardt, Thomas / Meichsner, Gunnar / Schubert, Andreas et al. | 2008
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