Defects in thin film silicon at the transition from amorphous to microcrystalline structure (Englisch)
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In:
physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters
;
1
, 2
;
R77-R79
;
2007
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:Defects in thin film silicon at the transition from amorphous to microcrystalline structure
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Beteiligte:Astakhov, O. ( Autor:in ) / Carius, R. ( Autor:in ) / Petrusenko, Yu. ( Autor:in ) / Borysenko, V. ( Autor:in ) / Barankov, D. ( Autor:in ) / Finger, F. ( Autor:in )
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Erschienen in:physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters ; 1, 2 ; R77-R79
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Verlag:
- Neue Suche nach: WILEY‐VCH Verlag
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Erscheinungsdatum:01.03.2007
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Format / Umfang:3 pages
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 1, Ausgabe 2
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