Wiley Series in Pure and Applied Optics (Englisch)
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In:
Fundamentals of Infrared and Visible Detector Operation and Testing
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1-2
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2015
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ISBN:
- Aufsatz/Kapitel (Buch) / Elektronische Ressource
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Titel:Wiley Series in Pure and Applied Optics
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Beteiligte:Vincent, John David ( Autor:in ) / Hodges, Steven E. ( Autor:in ) / Vampola, John ( Autor:in ) / Stegall, Mark ( Autor:in ) / Pierce, Greg ( Autor:in )
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Erschienen in:
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Verlag:
- Neue Suche nach: John Wiley & Sons, Inc
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Erscheinungsort:Hoboken, NJ, USA
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Erscheinungsdatum:05.10.2015
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Format / Umfang:2 pages
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ISBN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz/Kapitel (Buch)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis E-Book
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Wiley Series in Pure and Applied OpticsVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
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Introduction and OverviewVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
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RadiometryVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
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Thermal Detectors: Mechanisms, Operation, and PerformanceVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
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Classical Photon Detectors: Simple Photoconductor and PhotovoltaicsVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
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Modern Photon Detectors1Vincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
- 171
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Single Detector Assemblies and Small ArraysVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
- 191
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Readout Integrated Circuits1Vincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
- 237
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Electronics for FPA OperationVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
- 257
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Test EquipmentVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
- 315
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Detector TestingVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
- 379
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Measurements and UncertaintyVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
- 407
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CryogenicsVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
- 441
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VacuumVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
- 469
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Optics and Optical MaterialsVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
- 507
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Fourier Analysis of Detector ProblemsVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
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Appendix A: Symbols, Abbreviations, and AcronymsVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
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IndexVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015
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Front MatterVincent, John David / Hodges, Steven E. / Vampola, John / Stegall, Mark / Pierce, Greg et al. | 2015