Ab Initio Modeling of Defects in Semiconductors (Englisch)
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In:
Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells
;
597-620
;
2016
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ISBN:
- Aufsatz/Kapitel (Buch) / Elektronische Ressource
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Titel:Ab Initio Modeling of Defects in Semiconductors
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Beteiligte:Abou‐Ras, Daniel ( Herausgeber:in ) / Kirchartz, Thomas ( Herausgeber:in ) / Rau, Uwe ( Herausgeber:in ) / Albe, Karsten ( Autor:in ) / Ágoston, Péter ( Autor:in ) / Pohl, Johan ( Autor:in )
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Erschienen in:
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Verlag:
- Neue Suche nach: Wiley‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA
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Erscheinungsort:Weinheim, Germany
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Erscheinungsdatum:07.09.2016
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Format / Umfang:23 pages
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ISBN:
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DOI:
-
Medientyp:Aufsatz/Kapitel (Buch)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis E-Book
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Introduction to Thin‐Film PhotovoltaicsKirchartz, Thomas / Abou‐Ras, Daniel / Rau, Uwe et al. | 2016
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Fundamental Electrical Characterization of Thin‐Film Solar CellsKirchartz, Thomas / Ding, Kaining / Rau, Uwe et al. | 2016
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Electroluminescence Analysis of Solar Cells and Solar ModulesKirchartz, Thomas / Huhn, Vito / Gerber, Andreas / Pieters, Bart E. / Rau, Uwe et al. | 2016
- 93
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Capacitance Spectroscopy of Thin‐Film Solar CellsHeath, Jennifer / Zabierowski, Pawel et al. | 2016
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Time‐of‐Flight AnalysisBronger, Torsten et al. | 2016
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Transient Optoelectronic Characterization of Thin‐FilmSolar CellsDeibel, Carsten / Kirchartz, Thomas et al. | 2016
- 163
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Steady‐State Photocarrier Grating MethodBrüggemann, Rudolf et al. | 2016
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Absorption and Photocurrent Spectroscopy with High Dynamic RangeMüller, Thomas Christian Mathias / Kirchartz, Thomas et al. | 2016
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Spectroscopic EllipsometryLi, Jian / Collins, Robert W. / Sestak, Michelle N. / Koirala, Prakash / Podraza, Nikolas J. / Marsillac, Sylvain / Rockett, Angus A. et al. | 2016
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Characterizing the Light‐Trapping Properties of Textured Surfaces with Scanning Near‐Field Optical MicroscopyBittkau, Karsten / Lehnen, Stephan / Paetzold, Ulrich W. et al. | 2016
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Photoluminescence Analysis of Thin‐Film Solar CellsUnold, Thomas / Gütay, Levent et al. | 2016
- 299
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Electron‐Spin Resonance (ESR) in Hydrogenated Amorphous Silicon (a‐Si:H)Lips, Klaus / Fehr, Matthias / Behrends, Jan et al. | 2016
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Scanning Probe Microscopy on Inorganic Thin Films for Solar CellsSadewasser, Sascha / Visoly‐Fisher, Iris et al. | 2016
- 371
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Electron Microscopy on Thin Films for Solar CellsAbou‐Ras, Daniel / Nichterwitz, Melanie / Romero, Manuel J. / Schmidt, Sebastian S. et al. | 2016
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X‐ray and Neutron Diffraction on Materials for Thin‐Film Solar CellsSchorr, Susan / Stephan, Christiane / Törndahl, Tobias / Gunder, Rene / Többens, Daniel M. et al. | 2016
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In Situ Real‐Time Characterization of Thin‐Film GrowthPistor, Paul / Mainz, Roland / Heinemann, Marc Daniel / Unold, Thomas / Scheer, Roland et al. | 2016
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Raman Spectroscopy on Thin Films for Solar CellsÁlvarez‐García, Jacobo / Izquierdo‐Roca, Víctor / Pistor, Paul / Schmid, Thomas / Pérez‐Rodríguez, Alejandro et al. | 2016
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Soft X‐ray and Electron Spectroscopy: A Unique “Tool Chest” to Characterize the Chemical and Electronic Properties of Surfaces and InterfacesBär, Marcus / Weinhardt, Lothar / Heske, Clemens et al. | 2016
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Accessing Elemental Distributions in Thin Films for Solar CellsHoffmann, Volker / Klemm, Denis / Brackmann, Varvara / Venzago, Cornel / Rockett, Angus A. / Wirth, Thomas / Nunney, Tim / Kaufmann, Christian A. / Caballero, Raquel / Cojocaru‐Mirédin, Oana et al. | 2016
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Hydrogen Effusion ExperimentsBeyer, Wolfhard / Einsele, Florian et al. | 2016
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Ab Initio Modeling of Defects in SemiconductorsAlbe, Karsten / Ágoston, Péter / Pohl, Johan et al. | 2016
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Molecular Dynamics Analysis of NanostructuresZhou, Xiaowang / Chavez, Jose / Zubia, David et al. | 2016
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One‐Dimensional Electro‐Optical Simulations of Thin‐Film Solar CellsPieters, Bart E. / Decock, Koen / Burgelman, Marc / Stangl, Rolf / Kirchartz, Thomas et al. | 2016
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Two‐ and Three‐Dimensional Electronic Modeling of Thin‐Film Solar CellsKanevce, Ana / Metzger, Wyatt K. et al. | 2016
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Index| 2016
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Front Matter| 2016