Ab‐Initio Modeling of Defects in Semiconductors (Englisch)
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In:
Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells
;
477-499
;
2011
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ISBN:
- Aufsatz/Kapitel (Buch) / Elektronische Ressource
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Titel:Ab‐Initio Modeling of Defects in Semiconductors
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Beteiligte:Abou‐Ras, Daniel ( Herausgeber:in ) / Kirchartz, Thomas ( Herausgeber:in ) / Rau, Uwe ( Herausgeber:in ) / Albe, Karsten ( Autor:in ) / Ágoston, Péter ( Autor:in ) / Pohl, Johan ( Autor:in )
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Erschienen in:
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Verlag:
- Neue Suche nach: Wiley‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA
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Erscheinungsort:Weinheim, Germany
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Erscheinungsdatum:18.03.2011
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Format / Umfang:22 pages
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ISBN:
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DOI:
-
Medientyp:Aufsatz/Kapitel (Buch)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis E-Book
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Introduction to Thin‐Film PhotovoltaicsKirchartz, Thomas / Rau, Uwe et al. | 2011
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Fundamental Electrical Characterization of Thin‐Film Solar CellsKirchartz, Thomas / Ding, Kaining / Rau, Uwe et al. | 2011
- 61
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Electroluminescence Analysis of Solar Cells and Solar ModulesKirchartz, Thomas / Helbig, Anke / Pieters, Bart E. / Rau, Uwe et al. | 2011
- 81
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Capacitance Spectroscopy of Thin‐Film Solar CellsHeath, Jennifer / Zabierowski, Pawel et al. | 2011
- 107
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Characterizing the Light‐Trapping Properties of Textured Surfaces with Scanning Near‐Field Optical MicroscopyBittkau, Karsten et al. | 2011
- 125
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Spectroscopic EllipsometryMarsillac, Sylvain / Sestak, Michelle N. / Li, Jian / Collins, Robert W. et al. | 2011
- 151
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Photoluminescence Analysis of Thin‐Film Solar CellsUnold, Thomas / Gütay, Levent et al. | 2011
- 177
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Steady‐State Photocarrier Grating MethodBrüggemann, Rudolf et al. | 2011
- 203
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Time‐of‐Flight AnalysisBronger, Torsten et al. | 2011
- 231
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Electron‐Spin Resonance (ESR) in Hydrogenated Amorphous Silicon (a‐Si:H)Lips, Klaus / Fehr, Matthias / Behrends, Jan et al. | 2011
- 275
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Scanning Probe Microscopy on Inorganic Thin Films for Solar CellsSadewasser, Sascha / Visoly‐Fisher, Iris et al. | 2011
- 299
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Electron Microscopy on Thin Films for Solar CellsAbou‐Ras, Daniel / Nichterwitz, Melanie / Romero, Manuel J. / Schmidt, Sebastian S. et al. | 2011
- 347
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X‐Ray and Neutron Diffraction on Materials for Thin‐Film Solar CellsSchorr, Susan / Stephan, Christiane / Törndahl, Tobias / Mainz, Roland et al. | 2011
- 365
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Raman Spectroscopy on Thin Films for Solar CellsÁlvarez‐García, Jacobo / Izquierdo‐Roca, Víctor / Pérez‐Rodríguez, Alejandro et al. | 2011
- 387
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Soft X‐Ray and Electron Spectroscopy: A Unique “Tool Chest” to Characterize the Chemical and Electronic Properties of Surfaces and InterfacesBär, Marcus / Weinhardt, Lothar / Heske, Clemens et al. | 2011
- 411
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Elemental Distribution Profiling of Thin Films for Solar CellsHoffmann, Volker / Klemm, Denis / Efimova, Varvara / Venzago, Cornel / Rockett, Angus A. / Wirth, Thomas / Nunney, Tim / Kaufmann, Christian A. / Caballero, Raquel et al. | 2011
- 449
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Hydrogen Effusion ExperimentsBeyer, Wolfhard / Einsele, Florian et al. | 2011
- 477
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Ab‐Initio Modeling of Defects in SemiconductorsAlbe, Karsten / Ágoston, Péter / Pohl, Johan et al. | 2011
- 501
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One‐Dimensional Electro‐Optical Simulations of Thin‐Film Solar CellsPieters, Bart E. / Decock, Koen / Burgelman, Marc / Stangl, Rolf / Kirchartz, Thomas et al. | 2011
- 529
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Two‐ and Three‐Dimensional Electronic Modeling of Thin‐Film Solar CellsKanevce, Ana / Metzger, Wyatt K. et al. | 2011
- 541
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Index| 2011
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Front Matter| 2011