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X-Ray Refraction Techniques for Fast, High-Resolution Microstructure Characterization and Non-Destructive Testing of Lightweight Composites
NationallizenzTrans Tech Publications | 2015|Beteiligte: Lange, Axel -
Wide angle X-ray diffraction topography of polycrystalline materials
American Institute of Physics | 1999| -
Terahertz spectral imaging techniques in NDT. Topography and computed tomography
Tema Archiv | 2010| -
Talbot- Lau interferometry with a non- binary phase grating for non-destructive testing
Freier ZugriffBASE | 2016| -
Talbot- Lau interferometry with a non- binary phase grating for non-destructive testing
Freier ZugriffBASE | 2016| -
Synchrotron-Based Micro-CT and Refraction-Enhanced Micro-CT for Non-Destructive Materials CharacterisationThe authors wish to acknowledge J. Bamberg and F. Heutling from MTU Aero Engines for financial support and for making the LCP specimens available.
Online Contents | 2009|Beteiligte: Lange, Axel
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