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0.1 mu m InGaAs/InAlAs/InP HEMT MMICs - a flight qualified technology
Tema Archiv | 2002|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
0.13 micrometer SiGe BiCMOS technology fully dedicated to mm-wave applications
Tema Archiv | 2009|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
0.15 micrometer CMOS process for high performance and high reliability
Tema Archiv | 1994|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
0.15 micron CMOS with high reliability and performance
Tema Archiv | 1993|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
0.15- mu m buried-channel p-MOSFETs with ultrathin boron-doped epitaxial Si layer
Tema Archiv | 1998|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
0.15 mu m passivated InP-based HEMT MMIC technology with high thermal stability in hydrogen ambient
Tema Archiv | 2000|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
0.35- mu m asymmetric and symmetric LDD device comparison using a reliability/speed/power methodology
Tema Archiv | 1998|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
1.3 micron light-emission-and-detection (LEAD) diodes with semi-insulating buried heterostructure
Tema Archiv | 1994|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
1–3 piezoelectric composites for high-temperature transducer applications
Tema Archiv | 2013|Schlagwörter: thermische Zuverlässigkeit -
1.5-V single work-function W/WN/n+-poly gate CMOS device design with 110-nm buried-channel PMOS for 90-nm vertical-cell DRAM
Tema Archiv | 2002|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
1.8 million transistor CMOS ASIC fabricated in a SiGe BiCMOS technology
Tema Archiv | 1998|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
1.8V–3GHz CMOS limiting amplifier with efficient frequency compensation
Online Contents | 2010|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
1.48 micrometer high power multiple-quantum-well laser diodes
Tema Archiv | 1992|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
1.55 micron buried ridge stripe laser diodes grown by gas source molecular beam epitaxy
Tema Archiv | 1993|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
1B processor deployment: Leading the way to flawless execution
Tema Archiv | 1995|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
1D and Q2D thermal resistance analysis of micro channel structure and flat plate heat pipe
Online Contents | 2017|Schlagwörter: Zuverlässigkeit
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