Erscheinungsjahr
Medientyp
Datenquelle
Fach
Format
Lizenz
Sprache
-
Analysis of Amorphous Layers on Silicon by Backscattering and Channelling Effect Measurements
Freier ZugriffBASE | 1999| -
Analysis of Phosphosilicate Glass Layers by Backscattering and Channelling Effect Measurements
Freier ZugriffBASE | 1999| -
Analysis of Rb and Cs Implantations in Silicon by Channelling and Hall Effect Measurements
Freier ZugriffBASE | 1999| -
Analysis of Silicon Nitride Layers Deposited from SiH₄ and N₂ on Silicon
Freier ZugriffBASE | 1999| -
Analysis of Thin Evaporated and Sputtered Superconducting Films by the Backscattering Technique
Freier ZugriffBASE | 1999| -
Application of ion beams for modification and analysis of superconducting materials with bbc,NaCl and A15 structure
Freier ZugriffBASE | 1999| -
Computer simulation of channelling measurements in He-irradiated V₃Si single crystals
Freier ZugriffBASE | 1999| -
Computer simulation of channelling measurements on V₃Si single crystals
Freier ZugriffBASE | 1999|
Meine Suche schicken an (beta)
Schicken Sie ihre Suchanfrage (Suchterm ohne Filter) an andere Datenbanken, Portale und Kataloge, um ggf. weitere interessante Treffer zu finden:
Dimensions ist eine Datenbank für Abstracts und Zitate, die Informationen zu Forschungsförderungen mit daraus resultierenden Veröffentlichungen, Studien und Patenten verknüpft.
Im TIB AV-Portal können audiovisuelle Medien aus Wissenschaft und Lehre recherchiert und eigene wissenschaftliche Videos publiziert werden.
Im FID move kann nach fachspezifischer Literatur, Forschungsdaten und weitere Informationen aus der Mobilitäts- und Verkehrsforschung gesucht werden.
Der Open Research Knowledge Graph liefert strukturiert beschriebene Forschungsinhalte und macht diese vergleichbar.
Frei zugänglicher Ausschnitt der Verbunddatenbank K10plus des GBV und des SWB mit für die Fernleihe und Direktlieferdienste relevanten Materialien.