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Correlation Between Substrate Hot Electron Energy and Homogeneous Degradation in n-MOSFET's
Online Contents | 1994| -
Silicon luminescence techniques for the characterization of hot-carrier and degradation phenomena in MOS devices
British Library Conference Proceedings | 1995| -
Modeling, simulation and design of the vertical Graphene Base Transistor
British Library Online Contents | 2013| -
Use of spectroscope in determining residual alloys in drawing steels
Engineering Index Backfile | 1941| -
Accurate Nonlocal Impact Ionization Models for Conventional and Staircase Avalanche Photodiodes Derived by Full Band Monte Carlo Transport Simulations
Freier ZugriffBASE | 2022|Beteiligte: Selmi, L. -
Design of an X-band transformer-coupled amplifier with improved stability and layout
Tema Archiv | 1993| -
Impact of carrier heating on backscattering in inversion layers
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2011|
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