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Low-frequency noise assessment of border traps in Al2O3 capped DRAM peripheral MOSFETs
Online Contents | 2014| -
Radiation Effects in Advanced Multiple Gate and Silicon-on-Insulator Transistors
Online Contents | 2013| -
Low-Frequency Noise Assessment of the Oxide Quality of Gate-Last High-k pMOSFETs
Online Contents | 2012| -
Paper: DLTS of p-type Czochralski Si wafers containing processing-induced macropores
Online Contents | 2012| -
A deep-level analysis of NiAu/AlN/(1 1 1) p+-Si metalinsulatorsemiconductor capacitors
Online Contents | 2011| -
(Invited) Defect Engineering for Monolithic Integration of III-V Semiconductors on Silicon Substrates
British Library Conference Proceedings | 2021|
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