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Study of the reliability impact of chlorine precursor residues in thin atomic-layer-deposited HfO2 layers
Tema Archiv | 2007|Schlagwörter: Zuverlässigkeit, dielektrische Zuverlässigkeit -
Introductory Invited Papers - Degradation and breakdown in thin oxide layers: Mechanisms, models and reliability prediction
Online Contents | 1999|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Ultra-thin oxide reliability: searching for the thickness scaling limit
Online Contents | 2000|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
A new analytic model for the description of the intrinsic oxide breakdown statistics of ultra-thin oxides
Online Contents | 1996|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
A new statistical model for fitting bimodal oxide breakdown distributions at different field conditions
Online Contents | 1996|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
New insights into the wide ID range channel hot-carrier degradation in high-k based devices
Tema Archiv | 2009|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Investigation of temperature acceleration of thin oxide time-to-breakdown
Tema Archiv | 1999|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
A new TDDB reliability prediction methodology accounting for multiple SBD and wear out
Tema Archiv | 2009|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Gate oxide breakdown in FET devices and circuits: From nanoscale physics to system-level reliability
Tema Archiv | 2007|Schlagwörter: Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen -
Electrical and reliability characterization of metal-gate/HfO2/Ge FET's with Si passivation
Tema Archiv | 2007|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Strong correlation between dielectric reliability and charge trapping in SiO2/Al2O3 gate stacks with TiN electrodes
Tema Archiv | 2002|Schlagwörter: Zuverlässigkeit, dielektrische Zuverlässigkeit -
Challenges in reliability assessment of advanced CMOS technologies
Tema Archiv | 2007|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Achievements and challenges for the electrical performance of MOSFETs with high-k gate dielectrics
Tema Archiv | 2004|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Reliability issues in advanced high k/metal gate stacks for 45 nm CMOS applications
Tema Archiv | 2006|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Area scaling and voltage dependence of time-to-breakdown in magnetic tunnel junctions
Tema Archiv | 2002|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Relation between hole traps and hydrogenous species in silicon dioxides (MOS devices)
Tema Archiv | 2002|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Weibull slope and voltage acceleration of ultra-thin (1.1-1.45 nm EOT) oxynitrides
Tema Archiv | 2004|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Analysis of externally imposed mechanical stress effects on the hot-carrier induced degradation of MOSFETs
Tema Archiv | 1994|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Charge trapping in MOSFETs with HfSiON dielectrics during electrical stressing
Tema Archiv | 2005|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
High-resolution SILC measurements of thin SiO2 at ultra low voltages
Tema Archiv | 2002|Schlagwörter: Zuverlässigkeit
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