Synonyme wurden verwendet für: Zuverlässigkeit
Suche ohne Synonyme: keywords:("Zuverlässigkeit")
Verwendete Synonyme:
- reliability
- technische zuverlassigkeit
- verlasslichkeit
-
Study of the reliability impact of chlorine precursor residues in thin atomic-layer-deposited HfO2 layers
Tema Archiv | 2007|Schlagwörter: Zuverlässigkeit, dielektrische Zuverlässigkeit -
New insights into the wide ID range channel hot-carrier degradation in high-k based devices
Tema Archiv | 2009|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Investigation of temperature acceleration of thin oxide time-to-breakdown
Tema Archiv | 1999|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
A new TDDB reliability prediction methodology accounting for multiple SBD and wear out
Tema Archiv | 2009|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Challenges in reliability assessment of advanced CMOS technologies
Tema Archiv | 2007|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Electrical and reliability characterization of metal-gate/HfO2/Ge FET's with Si passivation
Tema Archiv | 2007|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Strong correlation between dielectric reliability and charge trapping in SiO2/Al2O3 gate stacks with TiN electrodes
Tema Archiv | 2002|Schlagwörter: Zuverlässigkeit, dielektrische Zuverlässigkeit -
Reliability issues in advanced high k/metal gate stacks for 45 nm CMOS applications
Tema Archiv | 2006|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Area scaling and voltage dependence of time-to-breakdown in magnetic tunnel junctions
Tema Archiv | 2002|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Relation between hole traps and hydrogenous species in silicon dioxides (MOS devices)
Tema Archiv | 2002|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Ultra-thin oxide reliability: searching for the thickness scaling limit
Tema Archiv | 2000|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Impact of defects on the high- kappa/MG stack: The electrical characterization challenge
Tema Archiv | 2006|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
High-resolution SILC measurements of thin SiO2 at ultra low voltages
Tema Archiv | 2002|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Hot carrier degradation and time-dependent dielectric breakdown in oxides
Tema Archiv | 1999|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Abrupt breakdown in dielectric/metal gate stacks: a potential reliability limitation?
Tema Archiv | 2005|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Characterization of soft breakdown in thin oxide NMOSFETs based on the analysis of the substrate current
Tema Archiv | 2001|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Assessment of oxide reliability and hot carrier degradation in CMOS technology
Tema Archiv | 1998|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Analysis and modeling of a digital CMOS circuit operation and reliability after gate oxide breakdown: a case study
Tema Archiv | 2002|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Low Weibull slope of breakdown distributions in high-k layers
Tema Archiv | 2002|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
Impact of MOSFET gate oxide breakdown on digital circuit operation and reliability
Tema Archiv | 2002|Schlagwörter: Zuverlässigkeit
Meine Suche schicken an (beta)
Schicken Sie ihre Suchanfrage (Suchterm ohne Filter) an andere Datenbanken, Portale und Kataloge, um ggf. weitere interessante Treffer zu finden:
Dimensions ist eine Datenbank für Abstracts und Zitate, die Informationen zu Forschungsförderungen mit daraus resultierenden Veröffentlichungen, Studien und Patenten verknüpft.
Im TIB AV-Portal können audiovisuelle Medien aus Wissenschaft und Lehre recherchiert und eigene wissenschaftliche Videos publiziert werden.
Im FID move kann nach fachspezifischer Literatur, Forschungsdaten und weitere Informationen aus der Mobilitäts- und Verkehrsforschung gesucht werden.
Der Open Research Knowledge Graph liefert strukturiert beschriebene Forschungsinhalte und macht diese vergleichbar.
Frei zugänglicher Ausschnitt der Verbunddatenbank K10plus des GBV und des SWB mit für die Fernleihe und Direktlieferdienste relevanten Materialien.