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2012 ARCS workshops : Munich, Germany, 28 - 29 February 2012 ; [co-located with the Conference on Architecture of Computing Systems]
TIBKAT | 2012|Verlag: IEEE, Piscataway, NJ -
Proceedings - First International Symposium on Empirical Software Engineering and Measurement, ESEM 2007 : Madrid, Spain, 20 - 21 September 2007
TIBKAT | 2007|Verlag: IEEE, Piscataway, NJ -
History: Lighting the Pan-Pacific Exposition
British Library Online Contents | 1998|Verlag: THE IEEE, INC. -
ITEM: A Temperature-Dependent Electromigration Reliability Diagnosis Tool
British Library Online Contents | 1997|Verlag: IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS -
Externally Hazard-Free Implementations of Asynchronous Contorl Circuits
British Library Online Contents | 1997|Verlag: IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS -
Logic Decomposition During Technology Mapping
British Library Online Contents | 1997|Verlag: IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS -
On the Quality of Accumulator-Based Compaction of Test Responses
British Library Online Contents | 1997|Verlag: IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS -
Diagnosis of CMOS Op-Amps with Gate Oxide Short Faults Using Multilayer Perceptions
British Library Online Contents | 1997|Verlag: IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS -
1990 IEEE 7th International Symposium on Applications of Ferroelectrics : [June 6 - 8 1990, University of Illinois at Urbana] in Anschaffung
TIBKAT | 1991|Verlag: IEEE Service Center, Piscataway -
Proceedings, 28th EUROMICRO conference : September 4 - 6, 2002, Dortmund, Germany
TIBKAT | 2002|Verlag: IEEE Computer Society, Los Alamitos, Calif. [u.a.] -
An Evaluation of Bipartitioning Techniques
British Library Online Contents | 1997|Verlag: IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS -
A Region-Based Theory for State Assignment in Speed-Independent Circuits
British Library Online Contents | 1997|Verlag: IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS -
Compact Test Sets for High Defect Coverage
British Library Online Contents | 1997|Verlag: IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS -
A Sequential Quadratic Programming Approach to Concurrent Gate and Wire Sizing
British Library Online Contents | 1997|Verlag: IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS -
On the Nature and Inadequacies of Transport Timing Delay Constructs in VHDL Descriptions
British Library Online Contents | 1997|Verlag: IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS -
Integrated aluminum connections
Engineering Index Backfile | 1969|Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) -
Structure and operation of Telefunken-Digital Computet TR-4
Engineering Index Backfile | 1963|Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) -
Influence of preexisting DC voltage on switching surge flashover characteristics
Engineering Index Backfile | 1968|Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) -
Proceedings, 27th EUROMICRO conference : September 4 - 6, 2001, Warsaw, Poland
TIBKAT | 2001|Verlag: IEEE Computer Society, Los Alamitos, Calif. [u.a.]
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