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Inhaltsverzeichnis
79
A newly observed high frequency effect on the ESD protection utilized in a gigahertz NMOS technology
Weston, H.T.
/ Lee, V.W.
/ Stanik, T.D.
et al.
| 1993
91
Latent damage and parametric drift in electrostatically damaged MOS transistors
Tunnicliffe, M.J.
/ Dwyer, V.M.
/ Campbell, D.S.
et al.
| 1993
111
ESD protection in a 3.3 V sub-micron silicided CMOS technology
Krakauer, David
et al.
| 1993
131
Annealing of ESD-induced damage in power MOSFETs
Zupac, D.
/ Pote, D.
/ Schrimpf, R.D.
et al.
| 1993
145
An investigation of BiCMOS ESD protection circuit elements and applications in submicron technologies
Amerasekera, Ajith
/ Chatterjee, Amitava
et al.
| 1993
161
Electrical overstress (EOS) power profiles: A guidline to qualify EOS hardness of semiconductor devices
Diiaz, C.
et al.
| 1993
161
Electrical overstress (EOS) power profiles: A guideline to qualify EOS hardness of semiconductor devices
Díaz, Carlos
/ Kang, Sung-Mo
/ Duvvury, Charvaka
et al.
| 1993
177
On chip ESD protection using SCR pairs
Croft, Gregg D.
et al.
| 1993
177
On clip ESD protection using SCR pairs
Croft, G.D.
et al.
| 1993
199
From lightning to charged-device model electrostatic discharges
Lin, Don L.
/ Welsher, Terry L.
et al.
| 1993
215
Techniques and methodologies for making system level ESD response measurements for troubleshooting or design verification
Smith, Douglas C.
et al.
| 1993
237
Shallow trench isolation double-diode electrostatic discharge circuit and interaction with DRAM output circuitry
Voldman, S.H.
et al.
| 1993
237
Shallow trench isolation double-diobe electrostatic discharge circuit and interaction with DRAM output circuitry
Voldman, Steven H.
/ Gross, Vaughn P.
/ Hargrove, Michael J.
et al.
| 1993
263
Fieldemitter-based ESD-protection circuits for high-frequency devices and IC's
Bock, K.
/ Hartnagel, H.-L.
et al.
| 1993
281
Experimental study of unprotected MOS structures under EOS/ESD conditions
Greason, W.D.
/ Chum, K.
et al.
| 1993
301
A successful HBM ESD protection circuit for micron and sub-micron level CMOS
Carbajal, Bernard G. III
/ Cline, Roger A.
/ Andersen, Bernhard H.
et al.
| 1993
313
Integrated circuit metal in the charged device model: bootstrap heating, melt damage, and scaling laws
Maloney, Timothy J.
et al.
| 1993
323
ESD induced gate oxide damage during wafer fabrication process
Kim, Sang U.
et al.
| 1993
339
The resistence phase of an air discharge and the formation of fast risetime ESD pulses
Hyatt, H.M.
et al.
| 1993
339
The resistive phase of an air discharge and the formation of fast risetime ESD pulses
Hyatt, Hugh M.
et al.
| 1993
357
Calendar
| 1993
357
Calender
| 1993
359
Author index volume 31
| 1993
361
Contents volume 31
| 1993
363
Subject index volume 31
| 1993
364
Panel of referees
| 1993
365
Publisher's note
| 1993
365
Submission of manuscripts by diskette
| 1993
i
Preface
Dr. Greason, William D.
/ Eng, P.
et al.
| 1993