X-Ray Diffraction Methods for the Determination of Stresses and Strains in Multilayer Monocrystal Films (Englisch)
Nationallizenz
- Neue Suche nach: Chukhovskii, F. N.
- Neue Suche nach: Khapachev, Yu. P.
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- Neue Suche nach: Khapachev, Yu. P.
In:
Crystallography Reviews
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3
, 3
;
257-324
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1993
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:X-Ray Diffraction Methods for the Determination of Stresses and Strains in Multilayer Monocrystal Films
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Beteiligte:Chukhovskii, F. N. ( Autor:in ) / Khapachev, Yu. P. ( Autor:in )
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Erschienen in:Crystallography Reviews ; 3, 3 ; 257-324
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Verlag:
- Neue Suche nach: Taylor & Francis
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Erscheinungsdatum:01.12.1993
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Format / Umfang:68 pages
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 3, Ausgabe 3
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Editorial board page for “Crystallography Reviews”, Volume 3, Number 3| 1993
- 255
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EditorialMoore, Moreton et al. | 1993
- 257
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X-Ray Diffraction Methods for the Determination of Stresses and Strains in Multilayer Monocrystal FilmsChukhovskii, F. N. / Khapachev, Yu. P. et al. | 1993