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Viewing Angle and Imaging Polarization Analysis of Liquid Crystal Displays and Their Components
British Library Online Contents | 2014| -
VUV spectroscopic ellipsometry applied to the characterization of high-k dielectrics
Online Contents | 2004|Beteiligte: Heinrich, P. -
Automated metrology system including VUV spectroscopic ellipsometry and X-ray reflectometry for 300 mm silicon microelectronics
Online Contents | 2004|Beteiligte: Evrard, P. -
A new multiple wavelength ellipsometric imager: design, limitations and applications
Online Contents | 2004| -
Automated metrology system including VUV spectroscopic ellipsometry and X-ray reflectometry for 300 mm silicon microelectronics
Online Contents | 2004|Beteiligte: Evrard, P. -
Automated metrology system including VUV spectroscopic ellipsometry and X-ray reflectometry for 300 mm silicon microelectronics
Online Contents | 2004|Beteiligte: Evrard, P. -
A new multiple wavelength ellipsometric imager: design, limitations and applications
Online Contents | 2004| -
10 - 5 Flicker Measurement Method to Adjust the Common Electrode Voltage of LCDs
British Library Conference Proceedings | 2007| -
DOSSIER - Les mesures optiques dans l'industrie - L'optique trouve de plus en plus d'applications dans les mesures industrielles. Son potentiel important résulte de spécificités telles que l'insensibilité aux parasites électromagnétiques, la possibilité de mesurer sans contact et à distance... des caractéristiques qui permettent notamment la mise en place de solutions dans les secteurs de l'électricité et l'électronique - Profilométrie optique appliquée à la caractérisation des surfaces en microélectronique et en technologie des écrans plats
Online Contents | 2002|Beteiligte: Piel, J.-P. -
Low-k dielectrics: a non-destructive characterization by infrared spectroscopic ellipsometry
Online Contents | 2003| -
SOPRA SE300: a new tool for high accuracy characterization of multilayer structures
Online Contents | 1999| -
A transmission electron microscopy study of low‐temperature reaction at the Co‐Si interface
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 1990| -
7.3 Spectral BRDF (Bidirectional Reflectance Diffusion Function) on E-Papers and Displays Using Multispectral Fourier Optics Instrument
British Library Conference Proceedings | 2011| -
Multicouches nanométriques pour l'optique X : quelques exemples applicables aux lasers X
EDP Sciences | 1992| -
Design and manufacture of sputtered multilayers for applications to soft X-ray optics
EDP Sciences | 1994| -
Modele phenomenologique de circulation des particules d'usure dans un contact a haute temperature
British Library Online Contents | 2011| -
Design and manufacture of sputtered multilayers for applications to soft X-ray optics
British Library Online Contents | 1994| -
Multicouches nanometriques pour l'optique X : quelques exemples applicables aux lasers X
British Library Online Contents | 1992| -
Atomic scale analysis of multilayer films : in-situ kinetic ellipsometry compared to other characterization methods
British Library Online Contents | 1991| -
7.4 How to Check Gray Scale Stability of LCD TVs Versus Viewing Angle
British Library Conference Proceedings | 2011| -
Precise response time measurement and analysis of liquid crystal displays
British Library Conference Proceedings | 2006| -
Growth and structure of f.c.c. (100) Fe/Cu multilayers deposited on Si
NationallizenzElsevier | 1992| -
41.4: New Strategy for Characterization of Multi-view Auto-stereoscopic Displays using Fourier Optics Viewing Angle Instrument
British Library Online Contents | 2014| -
Designing phase II clinical trials to target subgroup of interest in a heterogeneous population: A case study using an R package
British Library Online Contents | 2018| -
Generalized ellipsometry for the characterization of anisotropic materials: influence of the sample adjustment on the extracted optical indices
British Library Online Contents | 2004| -
VHF1 - 1 Can We Predict LCD Aspect Using Local Viewing Angle Measurements?...... Vol. 1
British Library Conference Proceedings | 2005|
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