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Degradation of 248 nm Deep UV Photoresist by Ion Implantation
British Library Online Contents | 2011| -
Advanced experimental back-end-of-line (BEOL) stability test: Measurements and simulations
British Library Online Contents | 2015| -
Removal of High-Dose Ion-Implanted 248 nm Deep UV Photoresist Using UV Irradiation and Organic Solvent
British Library Online Contents | 2011| -
Formation, processing and characterization of Co–Sn intermetallic compounds for potential integration in 3D interconnects
British Library Online Contents | 2015| -
Spacious and mechanically flexible mesoporous silica thin film composed of an open network of interlinked nanoslabs
British Library Online Contents | 2011| -
Fabrication of Porogen Residue Free Ultra Low-k PECVD Material by Subsequent H~2-Afterglow Plasma Treatment and UV Curing
British Library Conference Proceedings | 2010| -
Analysis and modeling of the high vacuum scanning spreading resistance microscopy nanocontact on silicon
British Library Online Contents | 2010| -
Chip-Package Interaction in 3D stacked IC packages using Finite Element Modelling
Tema Archiv | 2014| -
Electrical performance, reliability and microstructure of sub-45nm copper damascene lines fabricated with TEOS backfill
British Library Online Contents | 2007| -
Non-Oxidizing Solvent-Based Strip of Ion Implanted Photoresist
British Library Conference Proceedings | 2012| -
Ultra Low-k Materials Based on Self-Assembled Organic Polymers
British Library Conference Proceedings | 2012| -
Electrical performance, reliability and microstructure of sub-45nm copper damascene lines fabricated with TEOS backfill
British Library Conference Proceedings | 2007| -
Aggressive Scaling of Cu/Low kappa: Impact on Metrology
British Library Conference Proceedings | 2005| -
New methods and instrumentation for functional, yield and reliability testing of MEMS on device, chip and wafer level (Invited Paper) [7362-22]
British Library Conference Proceedings | 2009| -
Microstructural Evolution of Cu Interconnect Under AC, Pulsed DC and DC Current Stress
British Library Conference Proceedings | 2007| -
Super Secondary Grain Growth in the Barrier/Seedlayer System
British Library Conference Proceedings | 2005| -
High Sputter Bias Super Secondary Grain Growth Initiation (In Structures)
British Library Conference Proceedings | 2007| -
Super Secondary Grain Growth Initiation in Electroplated Copper
British Library Conference Proceedings | 2006|
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