On-wafer calibration techniques enabling accurate characterization of high-performance silicon devices at the mm-wave range and beyond (English)
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2019
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ISBN:
- Book / Electronic Resource
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Title:On-wafer calibration techniques enabling accurate characterization of high-performance silicon devices at the mm-wave range and beyond
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Contributors:Rumiantsev, Andrej ( author )
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Published in:
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Publisher:
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Place of publication:Gistrup, Denmark
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Publication date:2019
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Size:1 online resource
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Remarks:illustrations
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DOI:
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Type of media:Book
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Type of material:Electronic Resource
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Language:English
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DDC: 621.3815/2 -
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