Elektrische Charakterisierung und Defektanalytik von Silizium mit MDP und MD-PICTS (German)
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2006
- Theses / Electronic Resource
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Title:Elektrische Charakterisierung und Defektanalytik von Silizium mit MDP und MD-PICTS
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Contributors:Dornich, Kay ( author )
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Dissertation:Freiberg (Sachsen), Techn. Univ. Bergakad., Diss, 2006
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Published in:
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Publisher:
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Place of publication:Freiberg
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Publication date:2006
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Size:Online-Ressource (PDF-Datei: 106 S., 1506 KB)
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Type of media:Theses
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Type of material:Electronic Resource
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Language:German
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