Verfahren zum Vermessen einer Oberflächentopographie eines Prüflings und Oberflächentopographie-Messvorrichtung (German)
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2021
- Patent / Electronic Resource
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Title:Verfahren zum Vermessen einer Oberflächentopographie eines Prüflings und Oberflächentopographie-Messvorrichtung
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Patent number:DE102019102063
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Patent applicant:
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Patent family:
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Contributors:SCHULZ MICHAEL ( author )
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Publisher:
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Publication date:2021-05-27
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Type of media:Patent
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Type of material:Electronic Resource
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Language:German
- New search for: G01B / G01M
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Classification:
IPC: G01B MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS, Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen / G01M TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES, Prüfen der statischen oder dynamischen Massenverteilung rotierender Teile von Maschinen oder Konstruktionen -
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