DIANA. Durchgängige Diagnosefähigkeit in Halbleiterbauelementen und übergeordneten Systemen zur Analyse von permanenten und sporadischen Elektronikausfällen im Gesamtsystem Automobil. Schlussbericht
(German)
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Für den potentiellen Käufer eines Automobils spielt heute, neben den zu erwartenden Kosten und vielen anderen Faktoren, die Zuverlässigkeit eine maßgebliche Rolle bei der Kaufentscheidung. Kosten und Zuverlässigkeit werden wiederum ganz wesentlich durch die im Fahrzeug verwendeten elektronischen Systeme bestimmt. Nicht zuletzt durch gestiegene Sicherheits- und Umweltschutzanforderungen hat die Komplexität elektronischer Systeme in den vergangenen Jahren immer weiter zugenommen. Die eindeutige Identifikation fehlerverursachender Komponenten wird jedoch in solchen komplexen, verteilten Systemen immer schwieriger, ist aber gleichzeitig essentiell für hohe Qualität und sichere Systemverfügbarkeit. Im Rahmen des BMBF-Verbundprojekts DIANA wurden erweiterte Diagnosefähigkeiten in Halbleiterbauelementen, Steuergeräten und dem Gesamtsystem der Automobilelektronik erforscht, um permanent oder sporadisch auftretende Fehler im Automobil schneller und zielgerichteter auffinden zu können. Dabei wurden Methoden und Verfahren entwickelt, die eine effiziente und unter den Rahmenbedingungen unterschiedlicher Anwendungsfälle wirtschaftliche Diagnose solcher Fehler erlauben. Diese Lösungen zur Fehlerdiagnose von hochkomplexen Steuergeräten der Automobilelektronik wurden so gestaltet, dass sie beginnend mit der Fehlermodellierung, über die Schaltungsentwicklung sowie den Produktionstest beim Halbleiterhersteller, und über die Umsetzung der in den Halbleiterbauelementen integrierten Verfahren beim Steuergerätehersteller, schließlich beim Endanwender zur Diagnose und Fehlerbeseitigung eingesetzt werden können. Dank dieses durchgängigen Ansatzes über alle Glieder der Wertschöpfungskette, bereitet DIANA den Weg für eine übergreifende Diagnosemethodik für die Automobilelektronik. Zu den für diese Diagnosemethodik essentiellen Ergebnissen des Projektes, gehören unter anderem Verfahren, die unter Berücksichtigung der Schaltungsstruktur im System eine exakte Diagnose von Fehlern in digitaler Logik sowie in Flash- und SRAM-Speichern ermöglichen. Auch für die Diagnose von Fehlern in gängigen analogen Komponenten, wie beispielsweise Analog-Digital-Wandler, konnten vollkommen neue Verfahren erarbeitet werden.
DIANA. Durchgängige Diagnosefähigkeit in Halbleiterbauelementen und übergeordneten Systemen zur Analyse von permanenten und sporadischen Elektronikausfällen im Gesamtsystem Automobil. Schlussbericht