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Business Continuity im Föderalismus
Herausforderungen und Möglichkeiten der Absicherung der ITK-Netze der öffentlichen VerwaltungSpringer Verlag | 2021| -
VERFAHREN ZUR KORREKTUR VON AUFLICHTREFLEXEN IN EINEM MODULAREN DIGITALMIKROSKOP, DIGITALMIKROSKOP UND DATENVERARBEITUNGSPROGRAMM
Free accessEuropean Patent Office | 2021| -
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM INSPIZIEREN EINER OBJEKTOBERFLÄCHE, INSBESONDERE ZUM INSPIZIEREN DER OBERFLÄCHE EINES PULVERBETTES MIT EINER VIELZAHL VON PULVERPARTIKELN
Free accessEuropean Patent Office | 2023| -
Energiespeichergehäuse, Energiespeicheranordnung und Kraftfahrzeug
Free accessEuropean Patent Office | 2022| -
Verfahren und Vorrichtung zur additiven Herstellung eines Werkstücks
Free accessEuropean Patent Office | 2023| -
Verfahren und Vorrichtung zur additiven Herstellung eines Werkstücks
Free accessEuropean Patent Office | 2022| -
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM INSPIZIEREN EINER OBJEKTOBERFLÄCHE, INSBESONDERE ZUM INSPIZIEREN DER OBERFLÄCHE EINES PULVERBETTES MIT EINER VIELZAHL VON PULVERPARTIKELN
Free accessEuropean Patent Office | 2020| -
Verfahren und Vorrichtung zum Inspizieren einer Objektoberfläche, insbesondere zum Inspizieren der Oberfläche eines Pulverbettes mit einer Vielzahl von Pulverpartikeln
Free accessEuropean Patent Office | 2020| -
Method for correcting illumination-dependent aberrations in a modular digital microscope, digital microscope and data-processing program
Free accessEuropean Patent Office | 2019| -
METHOD FOR CORRECTING ILLUMINATION-DEPENDENT ABERRATIONS IN A MODULAR DIGITAL MICROSCOPE, DIGITAL MICROSCOPE AND DATA-PROCESSING PROGRAM
Free accessEuropean Patent Office | 2017| -
IT-Grundschutz bei einem Telekommunikationsdienstleister
Besonderheiten bei der Anwendung der MethodikSpringer Verlag | 2017| -
VERFAHREN ZUR KORREKTUR VON BELEUCHTUNGSBEDINGTEN ABBILDUNGSFEHLERN IN EINEM MODULAREN DIGITALMIKROSKOP, DIGITALMIKROSKOP UND DATENVERARBEITUNGSPROGRAMM
Free accessEuropean Patent Office | 2016| -
Verfahren zur Korrektur von beleuchtungsbedingten Abbildungsfehlern in einem modularen Digitalmikroskop, Digitalmikroskop und Datenverarbeitungsprogramm
Free accessEuropean Patent Office | 2016|
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