Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator/Halbleiter-Systemen : die Wachstumsmorphologie von CaF2/Si(111) — [Electronic ed.] (German, English)
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1997
- Theses / Electronic Resource
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Title:Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator/Halbleiter-Systemen : die Wachstumsmorphologie von CaF2/Si(111)
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Contributors:
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Dissertation:Hannover, Univ., Diss., 1997
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Edition:[Electronic ed.]
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Publisher:
- New search for: Universitätsbibliothek u. Technische Informationsbibliothek
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Publication date:1997
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Size:II, 111 p., text images
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Remarks:nIndex
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Type of media:Theses
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Type of material:Electronic Resource
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Language:German, English
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Source: