Physical security for next generation CMOS ICs.
physikalische Sicherheit von integrierten CMOS Schaltkreisen der nächsten Generation
(English)
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- https://orcid.org/0000-0003-3809-9803
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2022
- Miscellaneous / Electronic Resource
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Title:Physical security for next generation CMOS ICs.
physikalische Sicherheit von integrierten CMOS Schaltkreisen der nächsten Generation -
Contributors:Moos, Thorben ( author )
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Publisher:
- New search for: Ruhr-Universität Bochum
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Publication date:2022
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Size:40066 KB , 112 KB , 114 KB , 111 KB
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DOI:
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Type of media:Miscellaneous
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Type of material:Electronic Resource
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Language:English
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Keywords:
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Source: