Some further applications of multiple. Beam interferometry I. interferometric method for measuring differential polarisation phase change at metallic reflection (English)
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In:
Journal de Physique et le Radium
;
11
, 7
;
432-433
;
1950
-
ISSN:
- Article (Journal) / Electronic Resource
-
Title:Some further applications of multiple. Beam interferometry I. interferometric method for measuring differential polarisation phase change at metallic reflection
-
Contributors:Tolansky, S. ( author )
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Published in:Journal de Physique et le Radium ; 11, 7 ; 432-433
-
Publisher:
- New search for: EDP Sciences
-
Publication date:1950-07-01
-
Size:2 pages
-
ISSN:
-
DOI:
-
Type of media:Article (Journal)
-
Type of material:Electronic Resource
-
Language:English
-
Keywords:
-
Source:
Table of contents – Volume 11, Issue 7
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Les propriétés optiques des lames mincesRouard, P. et al. | 1950
- 307
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La théorie générale des couches mincesAbelès, Florin et al. | 1950
- 310
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La détermination de l'indice et de l'épaisseur des couches minces transparentesAbelès, F. et al. | 1950
- 315
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L'admittance optique des couches homogènes et hétérogènesBlaisse, B.S. et al. | 1950
- 321
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Étude graphique des propriétés optiques théoriques des lames mincesCotton, P. et al. | 1950
- 327
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Application aux couches minces de la théorie de l'étalon interférentiel par réflexionDufour, Ch. et al. | 1950
- 332
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Étude graphique des propriétés optiques des lames métalliques mincesMalé, D. et al. | 1950
- 337
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Théorie de la transmission et de la réflexion dans les systèmes de couches minces multiplesScandone, F. et al. | 1950
- 342
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Sur la réflexion de la lumière sur des verres supportant des couches minces multiplesVasicek, Antonin et al. | 1950
- 346
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Méthode polarimétrique pour l'étude de l'hétérogénéité d'une couche mince sur support de verreVasicek, Antonin et al. | 1950
- 351
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Un appareil de pulvérisation cathodique permettant d'obtenir des couches dont la densité est contrôlée pendant la formationAndant, A. et al. | 1950
- 353
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Mécanisme pour la préparation par évaporation dans le vide de filtres interférentiels à couleur variableDufour, Ch. et al. | 1950
- 355
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Some factors influencing the adhesion of films produced by vacuum evaporationHeavens, O.S. et al. | 1950
- 361
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Préparation de lames minces dont l'épaisseur varie, dans une direction, suivant une loi donnée quelconqueJacquinot, Pierre et al. | 1950
- 363
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Appareil de vaporisation dans le vide pour la métallisation de lames d'interféromètreRoig, J. / Descamps et al. | 1950
- 366
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Méthode polarimétrique d'étude des couches minces par variation de l'indice du milieu d'incidence (immersion)Suhner, F. et al. | 1950
- 373
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Interferometric evaluation of thicknesses of thin filmsTolansky, S. et al. | 1950
- 375
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Propriétés optiques des lames minces de siliciumCotton, P. et al. | 1950
- 380
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Protection des verres d'optique et miroirs aluminiésFlamant et al. | 1950
- 385
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Évolution de certaines propriétés optiques des lames métalliques très mincesPerrot, M. et al. | 1950
- 390
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Sur les propriétés optiques des lames minces de platine et leur comparaison avec celles d'autres métauxRouard, P. et al. | 1950
- 394
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On the structure and properties of some metal and metal oxide filmsHass, Georg / Scott, Noel W. et al. | 1950
- 403
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Les applications des couches minces en polarimétrieAbelès, F. et al. | 1950
- 407
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Les couches minces dans l'infrarougeBillings, Bruce H. et al. | 1950
- 413
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Étude théorique de couches quintuples du type Ag—F 2Mg—Ag—F2Mg—AgDufour, Ch. et al. | 1950
- 418
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The construction of interference filters for the transmission of specified wavelengthsGreenland, K.M. / Billington, C. et al. | 1950
- 422
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The reflectivity of thin silver films and the performance of the Fabry-Perot interferometerKuhn, H. et al. | 1950
- 425
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The use of two Fabry-Perot interferometers in series for the detection of Faint satellitesKuhn, H. et al. | 1950
- 427
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Utilisation des combinaisons de lames minces en interférométrieJacquinot, Pierre / Dufour, Charles et al. | 1950
- 432
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Some further applications of multiple. Beam interferometry I. interferometric method for measuring differential polarisation phase change at metallic reflectionTolansky, S. et al. | 1950
- 434
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II. New multiple-beam localised fringes formed by strongly curved silvered thin platesTolansky, S. et al. | 1950
- 436
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III. A further application of localized white-light fringes of superpositionTolansky, S. et al. | 1950
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IV. The oscillations of quartz crystals as revealed by multiple-beam interferometryTolansky, S. et al. | 1950
- 441
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Practical applications of high and low-reflecting films on glassStrong, John et al. | 1950
- 444
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Some current developments in multilayer optical filmsTurner, A.F. et al. | 1950
- 461
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Propriétés optiques des lames minces solidesCotton, P. / Rouard, P. et al. | 1950