Evolution des paramètres de maille de LiNbO3 dopé par le potassium ou le magnésium (French)
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In:
Journal de physique / 4
;
6
, 4
; 49-56
;
1996
-
ISSN:
- Article (Journal) / Print
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Title:Evolution des paramètres de maille de LiNbO3 dopé par le potassium ou le magnésium
-
Contributors:
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Published in:Journal de physique / 4 ; 6, 4 ; 49-56
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Publisher:
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Place of publication:Les Ulis
-
Publication date:1996
-
ISSN:
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ZDBID:
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Type of media:Article (Journal)
-
Type of material:Print
-
Language:French
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Table of contents – Volume 6, Issue 4
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Radiocristallographie et biologie structuraleMoras, D. et al. | 1996
- 13
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La méthode de Laue refocalisée à haute énergie: une technique d'étude en volume des monocristauxBastie, P. et al. | 1996
- 23
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Siemens Smart CCD Detector Applied to Protein Crystallography with Synchrotron and Rotating Anode X-Ray SourcesHovestreydt, E. et al. | 1996
- 33
-
Les rayons X et la structure des amorphesPopescu, M. et al. | 1996
- 41
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Structure colomnaire de cristaux liquidesGuillon, D. et al. | 1996
- 49
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Evolution des paramètres de maille de LiNbO3 dopé par le potassium ou le magnésiumCerclier, O. et al. | 1996
- 57
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La diffraction des rayons X par les poudres cent ans après RöntgenLoue͏̈r, D. et al. | 1996
- 71
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Diffraction des rayons X par un polycristallin et microstructure en domaines ferroélectriquesValot, C. et al. | 1996
- 91
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X-Ray Diffraction Study of Structural Transformations of Aluminous 2:1 Layer Silicates During DehydroxylationDrits, V.A. et al. | 1996
- 103
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Une technique de correction du "décalage" d'un échantillon au cours d'expériences sur un diffractomètre à compteur à localisation courbeBernard, F. et al. | 1996
- 111
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Diffraction des rayons X en réflexion sous incidence fixe. Mise en oeuvre d'un détecteur courbe à localisation (CPS 120 Inel)Guinebretière, R. et al. | 1996
- 123
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Utilisation de la diffraction de rayons X pour l'étude de traitements de surface laserHlawka, F. et al. | 1996
- 127
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Mesures précises à l'aide d'un détecteur courbeRoux, J. et al. | 1996
- 135
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Etude des phases d'un clinker par diffractométrie des rayons X: vers la quantificationSignes-Frehel, M. et al. | 1996
- 143
-
Application de la diffraction des rayons X à l'identification des produits de corrosion du fer dans l'eau de la nappe d'AlsaceLlopiz, N. et al. | 1996
- 151
-
Histoire et état actuel de l'analyse des contraintes par rayons XEigenmann, B. et al. | 1996
- 187
-
Nouvel appareillage de diffraction X pour l'analyse de l'état mécanique (contraintes et microdéformations) de films minces nanocristallinsGoudeau, Ph et al. | 1996
- 197
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Influence des hétérogénéités de déformation élastique sur l'élargissement des pics de diffraction XMabelly, P. et al. | 1996
- 211
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Détermination des contraintes résiduelles par diffractométrie X des couches biphasées. Application au cas de la cémentationBloquel, F. et al. | 1996
- 219
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Détermination des contraintes par diffractométrie X dans le cas d'alliages métalliques polyphasésHadmar, P. et al. | 1996
- 231
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Etude des contraintes résiduelles dans les multicouches Au-NiBarallier, L. et al. | 1996
- 239
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Techniques de mesures de contraintes résiduelles. Contribution à l'étude de l'amélioration de la tenue en fatigue d'alliages d'aluminium utilisés en aéronautiqueVillard, C. et al. | 1996
- 251
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Analyse de dépôts PVD de tantale par diffraction XChekoure, L. et al. | 1996
- 259
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Experimental Equipment for Studying the Residual Stresses Developed During High Temperature Reactions by X-Ray DiffractionBernard, F. et al. | 1996
- 267
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Analyse par diffraction X des contraintes résiduelles générées par le procédé de fabrication des ressorts de soupape hélicoidauxKrier, J. et al. | 1996
- 273
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Evolution des contraintes résiduelles de l'acier à roulements EZ100CD17 en fonction des conditions d'élaboration, en fatigue de contact: mesures par diffraction XPoupon-Clairet, P. et al. | 1996
- 283
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La diffraction des rayons X: un outil pour l'étude des réactions solides-gaz (avantages et développements)Valot, Ch et al. | 1996
- 297
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Nouvelle méthode de quantification des orientations cristallines par figures de pôles haute résolution et ultra-rapidesFillit, R.Y. et al. | 1996
- 307
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Optimisation de la mesure de figures de pôles en diffraction XWagner, F. et al. | 1996
- 321
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Rayons X rasants et surfacesBrunel, M. et al. | 1996
- 341
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Présentation des possibilités de la diffraction de surface en ultra-vide sur les lignes françaises à l'ESRFBarbier, A. et al. | 1996
- 351
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Réflectométrie X et diffusion aux petits anglesPardo, B. et al. | 1996
- 367
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Utilisation du spectre de Fourier des courbes de réflectivité X pour l'étude d'empilements de couches mincesBridou, F. et al. | 1996
- 385
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Multilayer Reflectors for Improving the Primary Beam Intensity: Reflectivity Measurements on Coated GlassesKnoll, A. et al. | 1996
- 393
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Microscopie X par réflexion totale et diffraction de Kossel à incidence rasante: premiers résultatsErre, D. et al. | 1996
- 399
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Diffraction des rayons X en incidence rasante pour l'analyse des transformations structurales de surfaces d'aciers induites par implantation ionique multipleAndreazza, P. et al. | 1996
- 409
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Etude de matériaux multicouches par réflectivité X en incidence rasante. Méthode par dispersion d'énergie. Comparaison théorie-expérienceDuval, H. et al. | 1996
- 417
-
L'@apport des rayons X à l'étude des surfaces et interfacesDeville, J.-P. et al. | 1996
- 429
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Caractérisation par émission X de films d'oxyde et d'oxynitrure de chrome déposés par pulvérisation magnétron réactiveBaborowski, J. et al. | 1996
- 441
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Caractérisation structurale et morphologique de couches minces épitaxiées de ZnSe déposées sur GaAsRobino, M. et al. | 1996
- 451
-
Etude XPS de surfaces de nylon 6 traitées par un plasma d'oxygène en post-déchargeScheuer, A. et al. | 1996
- 461
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L'@étude par diffraction de rayons X des couches dures de carbonitrure de tungstène et de titanium produites par ablation laser réactiveChitica, N. et al. | 1996
- 467
-
Nouvelles applications de la spectrométrie d'émission X induite par excitation électronique de basse énergie (LEEIXS) en analyse de surfaceRomand, M. et al. | 1996
- 475
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Etude par diffraction X d'un acier inoxydable traité par implantation ionique à haute énergieLallemand, V. et al. | 1996
- 481
-
Multiple Scattering Calculation of Absorption Spectrum and Diffraction Calculation: Application to Nanometer Scale Copper Metallic ParticleBazin, D. et al. | 1996
- 487
-
Application of Multiple Scattering in Platinum Based Heterogeneous CatalystsBazin, D. et al. | 1996
- 493
-
Etude in situ par EXAFS de la réaction de reformage sur les systèmes Pt-Al2O3 et PtRe-Al2O3 sulfurésBensaddik, A. et al. | 1996
- 501
-
Etude par DRX et XPS des couches d'aluminium nitrurées par implantation ioniqueSeghrouchni, Z. et al. | 1996
- 511
-
Introduction au rayonnement synchrotron et à ses avantagesBessière, M. et al. | 1996
- 537
-
Dichroi͏̈sme magnétique en photoémission de couches minces de Fe sur Pd(100)Le Cann, X. et al. | 1996
- 545
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Etude in situ par EXAFS de la réductibilité d'un catalyseur Fischer-Tropsch à base de cobalt supporté sur siliceBensaddik, A. et al. | 1996
- 553
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Diffusion centrale des rayons X sous incidence rasante. Etude de la morphologie d'agrégatsThiaudière, D. et al. | 1996
- 561
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Application du rayonnement synchrotron à l'étude des transitions de phases sous haute pression des zéolites. Exemple de la scoléciteMalézieux, J.M. et al. | 1996
- 571
-
Etude en spectroscopie d'absorption X de catalyseurs de fluoration à base de chromeBirken, I. et al. | 1996
- 583
-
Fluorescence X: de la découverte des rayons de Röntgen aux identités de TertianBroll, N. et al. | 1996
- 599
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Qui a découvert la fluorescence X?Quintin, M. et al. | 1996
- 611
-
Historique de l'analyse par fluorescence XDespujols, J. et al. | 1996
- 619
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Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy for the Determination of Trace and Main ElementsHaschke, M. et al. | 1996
- 627
-
A New Method for the Determination of S, V, Fe, Ni, Pb and Other Elements in Some Distilled Fractions of Crude Petroleum by TXRFPasti, F. et al. | 1996
- 635
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Amélioration du dosage de traces en fluorescence X par l'utilisation du pic net ComptonGruffat, J.J. et al. | 1996
- 641
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Dosage des métaux lourds en traces par spectrométrie de fluorescence X dans les matériaux cimentiersGermaneau, B. et al. | 1996
- 651
-
Généralisation de l'analyse multiélémentaire par fluorescence X des filtres en fibre par la méthode de transmission (AFNOR X 43027)Quisefit, J.P. et al. | 1996
- 659
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Analyse de couches minces. Rendement d'excitationBroll, N. et al. | 1996
- 667
-
La spectrométrie de fluorescence X et l'analyse quantitative de couches minces à l'aide d'échantillons massifs. Application au dosage des aérosols atmosphériquesChateaubourg, P.de et al. | 1996
- 675
-
Concentrés de sulfures: une technique simple de préparation de perlesClaisse, F. et al. | 1996
- 683
-
Les flux du futurDavidts, M. et al. | 1996
- 695
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Historique de la diffraction et de la fluorescence des rayons XVries, J.L.de et al. | 1996
- 703
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Détecteurs de rayons X à semi-conducteurs. Evolutions récentesPonpon, J.P. et al. | 1996
- 721
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Low-Noise Electronics for High-Resolution CdZnTe and CdTe X-Ray Detection SystemsNiemelä, A. et al. | 1996
- 733
-
Microscopie X analytique et diffusion des ions en solutionRondot, S. et al. | 1996
- 739
-
Microscopie et microtomographie X: application en biologieElhila, H. et al. | 1996
- 747
-
Sources flash X compactes à haut taux de répétitionKhacef, A. et al. | 1996
- 755
-
Radiographie à l'aide d'un générateur pulsé de rayons X. Filtrage équilibré pour la mesure de largeur de dose à l'aide d'une diode PINBrion, J.-Cl et al. | 1996
- 763
-
Structures multicouches gravées pour le rayonnement X-UVBarchewitz, R. et al. | 1996
- 773
-
Lignes de Kossel observées avec des multicouches périodiques Fe-CChauvineau, J.P. et al. | 1996
- 781
-
Applications of an Integrated XRF-XRD SpectrometerYellepeddi, R. et al. | 1996
- 791
-
Les rayons X et l'étude des cuvres d'artDupouy, J.-M. et al. | 1996
- 809
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La spectrométrie de fluorescence X appliquée à la connaissance des monuments historiquesHugon, P. et al. | 1996
- 823
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La spectrométrie de fluorescence X pour l'analyse quantitative des végétaux et de leurs produits résiduels de combustionGarivait, S. et al. | 1996
- 833
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Analyse des plantes médicinales malgaches par fluorescence X en réflexion totaleLahatra Razafindramisa, F. et al. | 1996
- 843
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Séparation des métaux nobles (Pt, Au) d'une matrice géologique par chromatographie d'échange d'ions et détermination par spectrométrie de fluorescence XEtoubleau, J. et al. | 1996
- 853
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Analyse de traces dans le PVDF par fluorescence X et ICP-MS avec ablation laserBertucci, M. et al. | 1996
- 863
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Doser rapidement l'austénite résiduelle avec précisionConvert, F. et al. | 1996
- 879
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Apport de la diffraction de poudre à l'identification de composés minéraux dans quelques préparations pharmaceutiquesRenaud, P. et al. | 1996
- 887
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Diffraction X en traitements thermiques: dosage de l'austénite résiduelle par diffraction des rayons XBach, M. et al. | 1996
- 897
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Utilisation du détecteur courbe multicanal INEL CPS 120 pour l'identification des phyllosilicates par diffraction des rayons X, en transmission, sur préparations orientéesWeber, F. et al. | 1996
- 907
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Utilisation du détecteur courbe CPS 120 INEL en position horizontale ou verticale. Application à l'étude des composés d'insertion graphite-lithiumLelaurain, M. et al. | 1996
- 913
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Application de la diffractométrie des rayons X à l'étude électrochimique de la corrosion de l'acier au carbone en milieu géothermal réel et traitéAmalhay, M. et al. | 1996
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Spéciation de l'oxygène dans des frittés en AlN par diffraction X et extraction gazeuse haute température avec cycle thermiqueBertucci, M. et al. | 1996
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Microsonde électronique et caractérisation de biofilms sur aciersFeugeas, F. et al. | 1996
- 939
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Etude par EXAFS et fluorescence X de photocatalyseurs zéolithiques renfermant des nanoparticules de ZnOKhouchaf, L. et al. | 1996
- 947
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Etude in situ par analyse EXAFS d'un catalyseur de reformage Pt-Sn-Al2O3-ClBourges, P. et al. | 1996
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Caractérisation par spectroscopie d'absorption X de catalyseurs de dépollution de gaz d'échappement automobile du type Pt, Rh-Al2O3Maire, F. et al. | 1996
- 967
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Etude par spectrométrie d'absorption X d'un catalyseur de dépollution automobile sous mélange gazeux simulant un gaz d'échappementPitchon, V. et al. | 1996
- 975
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Index des auteurs| 1996