Surfaces - Aspects complémentaires entre la spectroscopie d'absorption X et la diffraction anomale dans le cas d'entités de taille nanométrique supportés sur un oxyde léger: agrégats métalliques et oxyde de type spinelle (French)
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In:
Journal de physique / 4
;
8
, 5
; Pr5263
;
1998
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ISSN:
- Article (Journal) / Print
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Title:Surfaces - Aspects complémentaires entre la spectroscopie d'absorption X et la diffraction anomale dans le cas d'entités de taille nanométrique supportés sur un oxyde léger: agrégats métalliques et oxyde de type spinelle
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Contributors:Bazin, D. ( author ) / Revel, R. / Dexpert, H. / Elkaim, E. / Lauriat, J.P. / Garin, F. / Maire, F. / Guczi, L. / Lu, G.
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Published in:Journal de physique / 4 ; 8, 5 ; Pr5263
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Publisher:
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Place of publication:Les Ulis
-
Publication date:1998
-
ISSN:
-
ZDBID:
-
Type of media:Article (Journal)
-
Type of material:Print
-
Language:French
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Table of contents – Volume 8, Issue 5
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Diffraction - Methode de Laue refocalisée à haute énergie: développements récentsHamelin, B. et al. | 1998
- 9
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Diffraction - La modélisation des effets photostructuraux dans des verres calcogénuresPopescu, M. et al. | 1998
- 15
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Diffraction - Étude de la microstructure des phases amorphes dans des fibres de nylon-6 par diffraction des rayons XPonnouradjou, A. et al. | 1998
- 23
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Diffraction - Détermination, par diffraction des rayons X, de la teneur en phase amorphe de certains matériaux minérauxCyr, M. et al. | 1998
- 31
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Diffraction - Diffraction de rayons X sur le silicium poreuxPopescu, M. et al. | 1998
- 39
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Diffraction - Experimental study of PbnA liquid crystalGuermai, K.El et al. | 1998
- 47
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Diffraction - Smetic phases of two liquid crystal families: TBnA and n.OBPDGuermai, K.El et al. | 1998
- 55
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Diffraction - Mesure de forces moléculaires entre bicouches par diffusion de rayons X à pression osmotique contrôléeDubois, M. et al. | 1998
- 63
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Diffraction - Existence d'un paradoxe de Schroeder avec la membrane Nafion ? Étude par diffusion de rayons X aux petits anglesCornet, N. et al. | 1998
- 69
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Diffraction - Analyse par diffraction des rayons X d'une couche de laiton obtenue par dépôt d'une couche de cuivre, d'une couche de zinc et diffusionBolle, B. et al. | 1998
- 77
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Diffraction - Détermination par diffraction des rayons X de la distribution en composition des solutions solides U1-yCeyO2 dans un composite UO2-U1-yCeyO2Buisson, P. et al. | 1998
- 85
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Diffraction - Cell parameters refinements showing an influence of the chemical nature of the grain surface on the crystalline characteristics of fine grained powdersSarrazin, P. et al. | 1998
- 91
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Diffraction - Modelisation of X-ray powder diffraction patterns for the study of heat-treated Fe-rich dioctahedral 2:1 layer silicatesMuller, F. et al. | 1998
- 99
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Diffraction - Utilisation de la diffraction résonnante pour détemminer la distribution cationique d'un ferrite de titane nanométriqueBernard, F. et al. | 1998
- 109
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Diffraction - Modélisation et analyse des profils de raies de diffraction X par des solides nanocristallinsAudebrand, N. et al. | 1998
- 119
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Diffraction - Caractérisation de poudres de zircone synthétisées par voie hydrothermaleTardot, A. et al. | 1998
- 125
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Contraintes résiduelles et textures - Analyse des constantes d'élasticité radiocristallographiques et des contraintes résiduelles d'usinage des céramiques AlN par diffraction des rayons XCifarelli, T. et al. | 1998
- 139
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Contraintes résiduelles et textures - Détermination du profil de contraintes résiduelles dans les gorges galetées de VilebrequinSeiler, W. et al. | 1998
- 147
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Contraintes résiduelles et textures - Utilisation des rayons X pour la mise au point d'un traitement thermochimique d'un acier à roulementBinot, N. et al. | 1998
- 153
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Contraintes résiduelles et textures - Caractérisation structurale et contraintes résiduelles de films d'AlN par diffraction des rayons XMeneau, C. et al. | 1998
- 163
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Contraintes résiduelles et textures - Determination des défauts des appareils d'analyse des contraintesConvert, F. et al. | 1998
- 171
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Contraintes résiduelles et textures - Les figures de pôles généralisées et leur utilisation dans l'analyse microstructurale des matériauxTidu, A. et al. | 1998
- 179
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Contraintes résiduelles et textures - Oxydation d'alliages de zirconium: gradients de phase et texturePétigny, N. et al. | 1998
- 187
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Contraintes résiduelles et textures - Application de la diffraction en transmission d'un rayonnement X polychromatique à l'étude des contraintes et de particules en suspension liquideLavelle, B. et al. | 1998
- 193
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Contraintes résiduelles et textures - Étude de texture hétérogène d'une couche mince par diffraction XGhazouli, K.El et al. | 1998
- 203
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Surfaces - La diffraction de rayons X en incidence rasante à l'ESRF: application à l'etude de surfaces et d'interfaces à base d'oxydesBarbier, A. et al. | 1998
- 215
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Surfaces - Utilisation de la transfommée de Fourier glissante dans l'analyse de courbes de réflectivité des rayons X sous incidence rasanteSmigiel, E. et al. | 1998
- 223
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Surfaces - Réflectometrie X de couches de cermetPardo, B. et al. | 1998
- 231
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Surfaces - Étude par diffraction X en temperature de la mise en ordre dans des couches minces AuNi épitaxiées sur substrat Au(100)Schuster, I. et al. | 1998
- 241
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Surfaces - Précautions à prendre lors de la caractérisation par XRD de dépôts de nitrure de carbone sur Si(100)Collard, S. et al. | 1998
- 249
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Surfaces - Influence de l'orientation cristalline sur la résistance à l'oxydation de revêtements de AlN: étude in-situ par diffractométrie XCasaux, Y. et al. | 1998
- 257
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Surfaces - Caractérisation structurale et morphologique de couches minces épitaxiées de Cd1-xZnxTe déposées sur GaAs(001) par ablation laserDeiss, J.L. et al. | 1998
- 263
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Surfaces - Aspects complémentaires entre la spectroscopie d'absorption X et la diffraction anomale dans le cas d'entités de taille nanométrique supportés sur un oxyde léger: agrégats métalliques et oxyde de type spinelleBazin, D. et al. | 1998
- 271
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Surfaces - Apport des techniques XRFS et LEEIXS à l'étude de la formation de films de silice sur acier par PACVDBahlawane, N. et al. | 1998
- 279
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Surfaces - Caractérisation par émission X de films de carbone et de nitrure de carbone déposés par PVDBaborowski, J. et al. | 1998
- 287
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Surfaces - Étude par émission de rayons X de films d'oxyde de cuivre formés sur des substrats de cuivreBaborowski, J. et al. | 1998
- 295
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Surfaces - Étude morphologique d'agrégats inclus dans des couches minces superficielles par diffusion centrale des rayons X en incidence rasanteBabonneau, D. et al. | 1998
- 303
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Surfaces - Analyse microstructurale de couches minces de Ti-B-N élaborées par pulvérisation cathodique magnétronGuillon, N. et al. | 1998
- 309
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Surfaces - Etude de la fluorescence du fer dans une multicouche périodique Fe-C éclairée sous incidence rasante par un faisceau de rayons X monochromatiqueBridou, F. et al. | 1998
- 319
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Fluorescence X - The concordance of algorithms and influence coefficients for the correction for matrix effects in XRFLachance, G.R. et al. | 1998
- 327
-
Fluorescence X - Quelques développements récents ou en cours concernant la technique des perlesClaisse, F. et al. | 1998
- 335
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Fluorescence X - Fast analysis of traces and major elements with ED(P)XRF using polarized X-rays: TURBOQUANTSchramm, R. et al. | 1998
- 343
-
Fluorescence X - Détermination directe des éléments tracés et des majeurs dans les charbons par fluorescence X à dispersion d'énergieHeimburger, R. et al. | 1998
- 351
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Fluorescence X - Analyse d'eaux radioactives d'un condenseur de réacteur nucléaire par spectrométrie de fluorescence X à réflexion totale (TXRF), dans un laboratoire en zone surveillée sans protection biologiqueTrabuc, P. et al. | 1998
- 359
-
Fluorescence X - Validation de la méthode d'étalonnage en couche mince par utilisation de géostandards déposés sur filtres pour l'analyse élémentaire par SFXQuisefit, J.P. et al. | 1998
- 369
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Fluorescence X - Utilisation de l'analyse SFX pour le dosage du silicium organique et du silicium inorganique dans des échantillons biologiques ou environnementauxClanet, F. et al. | 1998
- 379
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Fluorescence X - Choix de la composition optimale d'un borate de lithium dans la préparation des perles pour analyses par fluo-XClaisse, F. et al. | 1998
- 385
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Fluorescence X - Analyse multi-élémentaire par fluorescence X à dispersion d'énergie des apports fluviatiles et des sédiments superficiels de la plate-forme atlantique du MarocBounakhla, M. et al. | 1998
- 393
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Fluorescence X - L'ostéite infectieuse en paléopathologie: intéret des analyses par rayons XBlondiaux, J. et al. | 1998
- 399
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Fluorescence X - Spectre d'émission X et liaison chimiqueHochu, F. et al. | 1998
- 407
-
Techniques X - Caractérisation et spéciation chimique à l'échelle micrométrique utilisant le rayonnement synchrotronChevallier, P. et al. | 1998
- 413
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Techniques X - Élaboration de capillaires en verre pour focalisation des rayons X. Application des micro-faisceaux X en cristallographieBurggraf, C. et al. | 1998
- 421
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Techniques X - Conception d'une chambre de diffraction RX haute température pour l'étude de l'adsorption d'un gaz par un solide sous haute pressionGerard, N. et al. | 1998
- 429
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Techniques X - Étude de la cinétique de l'oxydation des aciers à hautes températures par réflectométrie des rayons XKnoll, A. et al. | 1998
- 437
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Techniques X - Détermination des microdéformations dans des matériaux composites spinelle-zircone par diffractométrie X haute résolution en réflexion asymétriqueMasson, O. et al. | 1998
- 445
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Techniques X - La spectrométrie de fluorescence X et la microsonde électronique, techniques complémentaires pour la détermination précise du chlore à l'état de trace dans les verres volcaniques formés au niveau des dorsales océaniquesEtoubleau, J. et al. | 1998
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Techniques X - Effet d'une élévation de température sur les performances dans le domaine des rayons X d'un miroir interférentiel multicouche Mo-SiAndré, J.-M. et al. | 1998
- 459
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Techniques X - Calibration accuracy for transmission geometry and molybdenum wavelength: A study on NaCRannou, I. et al. | 1998
- 465
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Techniques X - A miniature XRD-XRF. instrument for in-situ characterization of Martian soils and rocksSarrazin, P. et al. | 1998
- 471
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Techniques X - Exaltation de la photoluminescence de BaFBr:Eu2+ par l'action de divers contaminantsSieskind, M. et al. | 1998
- 481
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Applications X - Caractérisation structurale sous haute pression et en température par diffraction des rayons XFaure, Ph et al. | 1998
- 489
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Applications X - Étude par diffraction des rayons X des transformations de phase d'un alliage à mémoire de forme équiatomique TiNi en fonction du taux de déformation et du traitement thermiqueBaghdouche, F. et al. | 1998
- 497
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Applications X - Développements récents de l'étude en temps réel par diffraction des rayons X couplée à une thermographie infrarouge: application au suivi de la réaction MASHS dans les systèmes FeAl, et MoSi2Charlot, F. et al. | 1998
- 505
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Applications X - Oxidation of the turbine blade material CMSX4 studied by X-ray diffractionGross, M. et al. | 1998
- 511
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Applications X - Contribution à la détermination de la structure de l'alite par diffraction des rayons X sur poudresBellotto, M. et al. | 1998
- 519
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Applications X - Caractérisation par diffraction X de l'attaque superficielle de pâtes de ciment en milieu sulfatiqueJaubenhie, R. et al. | 1998
- 525
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Applications X - Application of X-ray diffraction to the study of limestone patinasBrunet-Imbault, B. et al. | 1998
- 531
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Applications X - Évolution de la cristallinite des silicates de chaux hydratésJauberthie, R. et al. | 1998
- 539
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Applications X - Analyse par DRX et MET de l'évolution de la solution solide LaNixFe1-xO3 et de la ségrégation de nickel dans les conditions d'obtention du gaz de synthèse par oxydation partielle du méthaneProvendier, H. et al. | 1998
- 547
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Applications X - Modélisation de particules bimétalliques Pt+Rh: application à un catalyseur académique de dépollution automobile de moteurs à essence étudié par EXAFSPitchon, V. et al. | 1998
- 553
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Applications X - Study by XPS and XAS (XANES) of tungsten oxides based catalysts: WO2, WO3, 1% Pd-WO2 and 1% Pd-WO3Bigey, C. et al. | 1998
- 561
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Applications X - Classement des bois de structure au moyen d'un densimètre à rayons XLanvin, J.-D. et al. | 1998
- 569
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Index| 1998