Dynamische Durchstrahlungsprüfung chemisch unterstützter Speisungsvorgänge im Aluminiumsandguss (German)
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In:
Gießereiforschung
;
52
, 1
; 26-30
;
2000
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ISSN:
- Article (Journal) / Print
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Title:Dynamische Durchstrahlungsprüfung chemisch unterstützter Speisungsvorgänge im Aluminiumsandguss
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Contributors:Duhm, Rainer ( author ) / Feiste, Karsten Lothar / Komber, Tilo / Reichert, Christian / Reimche, Wilfried / Stegemann, Dieter
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Published in:Gießereiforschung ; 52, 1 ; 26-30
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Publisher:
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-
Place of publication:Düsseldorf
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Publication date:2000
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ISSN:
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ZDBID:
-
Type of media:Article (Journal)
-
Type of material:Print
-
Language:German
- New search for: 52.77
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Keywords:
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Classification:
BKL: 52.77 Urformen -
Source:
Table of contents – Volume 52, Issue 1
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Ein neues Verfahren zur Bestimmung des Glanzkohlenstoff-Bildungsvermögens von Formsanden und AdditivenHelber, Joachim H. et al. | 2000
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Modellierung der Formfüllung beim Vollformgießen. Teil 1. Mathematisches Modell: ImpulsbilanzHopf, W. / Radoev, B. / Bast, J. et al. | 2000
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Modellierung der Formfüllung beim Vollformgiessen Teil 1. Mathematisches Modell: ImpulsbilanzHopf, Wolfgang et al. | 2000
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Beeinflussung des Gefüges von gerichtet erstarrten AlSi-Legierungen durch definiert variierte Konvektion und durch Kristallisationsparameter Teil 2. Simulation und ExperimentSeibold, Paul et al. | 2000
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Dynamische Durchstrahlungsprüfung chemisch unterstützter Speisungsvorgänge im AluminiumsandgussDuhm, Rainer et al. | 2000
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Dynamische Durchstrahlungsprüfung chemisch unterstützter Speisungsvorgänge im AluminiuimsandgußDuhm, R. / Feiste, K.L. / Komber, T. / Reichert, C. / Reimche, W. / Stegemann, D. et al. | 2000
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Zur Bestimmung von Parametern der Erstarrungskinetik mit Hilfe der thermischen AnalyseWeise, Jörg et al. | 2000
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Berechnung der thermisch induzierten Eigenspannungen in der Verbindungsschicht von gegossenen GradientenwerkstoffenTaran, Vladimir et al. | 2000
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Berechnung der thermische induzierten Eigenspannungen in der Verbindungsschicht von gegossenen GradientenwerkstoffenTaran, V. et al. | 2000