Editorial (English)
National licence
- New search for: Nickel, H.
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In:
Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie
;
319
, 6
;
585-587
;
1984
- Article (Journal) / Electronic Resource
-
Title:Editorial
-
Contributors:Nickel, H. ( author )
-
Published in:Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie ; 319, 6 ; 585-587
-
Publisher:
- New search for: Springer-Verlag
-
Place of publication:Berlin/Heidelberg
-
Publication date:1984-06-01
-
Size:3 pages
-
ISSN:
-
DOI:
-
Type of media:Article (Journal)
-
Type of material:Electronic Resource
-
Language:English
-
Keywords:
-
Source:
Table of contents – Volume 319, Issue 6
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- 585
-
EditorialNickel, H. et al. | 1984
- 588
-
Grundlagen der Korrosion metallischer Werkstoffe in wäßrigen MedienEngell, H. -J. et al. | 1984
- 589
-
Oberflächenanalytische Untersuchungen (AES) an binären Eisenlegierungen nach Korrosion in 1 M H2SO4Möller, R. / Riecke, E. / Grabke, H. J. et al. | 1984
- 591
-
X-ray diffraction method for the investigation of the oxidation kinetics in thin iron filmsWißmann, P. / Zitzmann, H. et al. | 1984
- 595
-
Anfangszustände des Wachstums von Oxid- und Oxycarbidschichten auf Fe-Al-Ti-LegierungenViefhaus, H. / Peters, J. / Grabke, H. J. et al. | 1984
- 597
-
Einflüsse der Korngrenzenanreicherung von Phosphor in Stählen auf die interkristalline Korrosion und SpannungsrißkorrosionGrabke, H. J. / Küpper, J. / Hahn, M. / Bohnenkamp, K. et al. | 1984
- 600
-
Quantitative characterization of surface layers on corroded medieval window glass with SIMSSchreiner, M. / Stingeder, G. / Grasserbauer, M. et al. | 1984
- 606
-
Oberflächenanalytik an Anlauffarben auf nichtrostenden StählenHeinen, H. J. / Holm, R. / Storp, S. et al. | 1984
- 611
-
Verfahrenskontrollen und komplementäre Informationen in der Oberflächenanalyse durch KombinationsgeräteBerresheim, K. et al. | 1984
- 616
-
Vergrabene Nitrid-Schichten in Silicium für Kalibrierproben zur quantitativen Auger-Elektronenspektrometrie (AES)Schmidt, M. / Kaat, E. / Bubert, H. / Garten, R. P. H. et al. | 1984
- 622
-
Verbesserung der Quantifizierung von Elementverteilungen durch BildverarbeitungSchilling, J. H. / Radermacher, L. / Beske, H. E. et al. | 1984
- 625
-
Vorschlag zur Entwicklung eines Spektrometers für die Raster-Photoelektronenspektroskopie (ESCAN)Petersen, H. / Braun, W. / Bradshaw, A. M. et al. | 1984
- 627
-
Analyse von Adsorptionsschichten auf EdelstahlblechenPuderbach, Herbert / Grosse-Böwing, Walter et al. | 1984
- 631
-
Sekundärionen-massenspektrometrische Untersuchungen von Oberflächenreaktionen der Übergangsmetalle mit verschiedenen sauerstoffhaltigen GasenKlöppel, K. D. et al. | 1984
- 634
-
Characterization of the growth mechanisms of thin Pd layers on SnO2: Structure and reactivity of a supported Pd catalystJacobs, H. / Mokwa, W. / Kohl, D. / Heiland, G. et al. | 1984
- 635
-
Quantitative measurement of the coverage on single crystal surfacesWinkler, A. et al. | 1984
- 638
-
Oberflächenanalytische Untersuchungen zur Adsorption von Iodverbindungen an uranhaltigen SubstratenDillard, J. G. / Moers, H. / Klewe-Nebenius, H. / Kirch, G. / Pfennig, G. / Ache, H. J. et al. | 1984
- 639
-
Passivschichten auf rostfreien Stählen: Eine Übersicht über oberflächenanalytische ErgebnisseFischmeister, H. / Roll, U. et al. | 1984
- 646
-
Metallkundlich-mikroanalytische Untersuchungen der Wirkung von Schutzschichten gegen Hochtemperaturkorrosion von GasturbinenschaufelwerkstoffenThien, V. / Schmitz, F. / Slotty, W. / Voss, W. et al. | 1984
- 655
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Oberflächenuntersuchungen zur Phosphatisierung von unlegierten StahlblechenMay, Wolfgang / Farah, Eduardo et al. | 1984
- 660
-
Oberflächenanalytische Untersuchung der Ausbildung von Schutzschichten auf Ni/Cr-Legierungen in HTR-Atmosphäre mit unterschiedlichen SauerstoffangebotenBecks, M. / Ehrmann, R. / Ebberink, J. / Menken, G. et al. | 1984
- 665
-
Anwendungsbeispiele für ein GDOS-Schnellverfahren zur Beurteilung von beschichteten MetalloberflächenGrunenberg, D. / Sommer, D. / Koch, K. H. et al. | 1984
- 670
-
Charakterisierung anodischer Deckschichten an Platin-Elektroden mittels Röntgen-PhotoelektronenspektroskopiePeuckert, M. / Bonzel, H. P. et al. | 1984
- 673
-
XPS- und AES-Untersuchungen an Eisen-Kupfer-Legierungen nach kathodischer Polarisation in H2SO4/H2SPanzner, G. / Egert, B. / Kato, C. / Grabke, H. J. et al. | 1984
- 675
-
Korrosionsschutz mit hilfe organischer schutzschichten und deren charakterisierungZorll, U. et al. | 1984
- 682
-
In situ-Untersuchungen der Grenzfläche Festkörper/LösungNeckel, A. et al. | 1984
- 695
-
In situ characterization of electrochemically-formed oxide films on low carbon steel by diffuse reflectance spectroscopyKessler, R. W. / Böttcher, E. / Füllemann, R. / Oelkrug, D. et al. | 1984
- 701
-
Charakterisierung von Coatings und dünnen Schichten mit Hilfe der FT-IR-SpektroskopieHerres, W. / Zachmann, G. et al. | 1984
- 706
-
Dynamische in situ-Ellipsometrie für Grundlagenuntersuchungen und ProzeßkontrolleRiedling, K. et al. | 1984
- 712
-
SIMS-Analyse von Wasserstoff in Si-ProbenBesocke, K. / Flentje, G. / Bay, H. L. / Hofer, W. O. / Littmark, U. et al. | 1984
- 714
-
Diffusion of deuterium into silicon single crystals: An investigation with SIMSHerion, J. / Beyer, W. / Wagner, H. et al. | 1984
- 719
-
Application of a liquid metal ion source to secondary ion mass spectrometryGnaser, H. et al. | 1984
- 724
-
Möglichkeiten zur lokalen Bewertung von SIMS-Elementverteilungen an der IonenmikrosondeRadermacher, L. / Schilling, J. H. / Beske, H. E. et al. | 1984
- 727
-
A practical table of sputtering yields for the non-expert userGries, W. H. / Strydom, H. J. et al. | 1984
- 729
-
Einfluß der Probentemperatur auf ionenbeschußinduzierte Konzentrationsmikroprofile in einer NiW-ProbeBartella, J. / Oechsner, H. et al. | 1984
- 731
-
Experimentelle Bestimmung oberer Schranken für Matrix-Effekte in XPSBerresheim, K. et al. | 1984
- 732
-
Messung der kritischen Probendicke für die EDX-Analyse dünner SchichtenSchwaab, Paul et al. | 1984
- 735
-
Untersuchungen zur Reaktion von konzentrierter Phosphorsäure mit reinen und korrodierten StahloberflächenMeisel, W. / Swolfs, A. / Gütlich, P. et al. | 1984
- 738
-
Ramanspektroskopie an Oxidschichten auf Reineisen im ElektrolytenDünnwald, J. / Otto, A. et al. | 1984
- 743
-
Die Infrarot-Spektroskopie als Methode zur chemischen Charakterisierung von dünnen Schichten auf MetallenMolt, K. et al. | 1984
- 751
-
Optimierung der Interferenzschichten-Metallographie für die automatische quantitative Gefügeanalyse und ihre Anwendung auf hochwarmfeste LegierungenLinke, J. / Hoven, H. / Koizlik, K. / Schmidt, K. et al. | 1984
- 753
-
Schutzschichten für HochtemperaturanwendungenGrünling, H. W. et al. | 1984
- 758
-
Methoden der Charakterisierung von Hochtemperaturschutzschichten auf metallischen WerkstoffenBauer, R. et al. | 1984
- 769
-
Untersuchungen an verschleißfesten Dünnschichten hergestellt durch reaktives KathodenzerstäubenKnotek, O. / Bosch, W. et al. | 1984
- 771
-
Anwendung der Oberflächenanalyse in der Dünnschichttechnik an ausgewählten BeispielenGöbel, J. et al. | 1984
- 777
-
Hochauflösende Auger-Elektronenspektroskopie zur Untersuchung von HartstoffbeschichtungenEtzkorn, H. -W. / Hantsche, H. / Steininger, H. et al. | 1984
- 784
-
Identification of atomically sharp concentration steps in solidsOechsner, H. et al. | 1984
- 786
-
Vergleichende SIMS- und AES-Tiefenprofil-Analysen an einem Ni/Cr-Vielschicht-SystemGnaser, H. / Rüdenauer, F. G. / Steiger, W. / Flentje, G. / Hofer, W. O. / Littmark, U. / Giber, J. / Marton, D. / Braun, P. / Störi, H. et al. | 1984
- 787
-
Investigation of surface reactions of metals by quantitative distribution analysis with SIMSStingeder, G. / Wilhartitz, P. / Schreiner, M. / Grasserbauer, M. et al. | 1984
- 795
-
Oberflächenanalytik an Kernbrennstoffen und Auflöserückständen hoher spezifischer AktivitätHenkelmann, R. / Baumgärtner, F. et al. | 1984
- 798
-
Depth profile analyses by GDOS on stainless steel surfaces after exposure to liquid lithiumSchreinlechner, I. / Scholze, P. et al. | 1984
- 801
-
Rutherford backscattering for measuring corrosion layers on glasses for long-term storage of radioactive wasteMatzke, Hj. et al. | 1984
- 809
-
Anwenderbezogene ESCA-Oberflächenuntersuchungen in der industriellen TechnikEbberink, J. / Ehrmann, R. / Menken, G. et al. | 1984
- 812
-
Korrosion von rostfreien Stählen in Chloridlösungen. Eine XPS-Untersuchung der PassivfilmeBrüesch, P. / Atrens, A. / Müller, K. / Neff, H. et al. | 1984
- 822
-
RSV Spektrometer Typ ANALYMAT 2500 mit Glimmentladungslampe und Sord-Computer-System für die Oberflächenanalyse und die quantitative AnalyseRitzl, H. et al. | 1984
- 826
-
Scanning-Auger-Untersuchungen an Hartmetall-BruchflächenGoretzki, H. / Weiss, M. / Kny, E. et al. | 1984
- 831
-
Interface distribution analysis of P in W-NiFe-alloys with SIMSWilhartitz, P. / Grasserbauer, M. / Danninger, H. / Lux, B. et al. | 1984
- 837
-
FTIR-ATR-spectroscopic in situ analysis of the protein adsorption on charged polymer surfacesKellner, R. / Götzinger, G. et al. | 1984
- 839
-
FTIR-ATR-spectroscopic analysis of depth distribution of crown ethers on PVC-membrane surfacesKellner, R. / Götzinger, G. / Pungor, E. / Toth, K. / Polos, L. et al. | 1984
- 841
-
Angle resolved ESCA analysis of plasma modified polystereneEvans, J. F. / Gibson, J. H. / Moulder, J. F. / Hammond, J. S. / Goretzki, H. et al. | 1984
- 845
-
Applications of the small spot ESCA system SSX 100 in surface analysisDaiser, S. M. / Maul, J. L. / Kelly, M. A. et al. | 1984
- 848
-
Radiochemische Korrosionsuntersuchungen an Ventilmetallen und EdelstahlBestanpouri, A. / Droste, R. / Erben, W. / Schönemann, W. / Wegen, D. / Marx, G. et al. | 1984
- 849
-
Bedeutung und Problematik von Metall-Halbleiter-KontaktenWagner, H. et al. | 1984
- 851
-
Bestimmung von Implantationsprofilen für As und P in Si mittels SNMS niedriger EnergieBeckmann, P. / Oechsner, H. / Paulus, H. et al. | 1984
- 853
-
Einsatz von Oberflächenmethoden zur Charakterisierung von Si-Wafers nach unterschiedlicher VorbehandlungGrundner, M. et al. | 1984
- 855
-
Transient SIMS depth-profiles at the interface Si3N4/GaAsTraxlmayr, U. / Stingeder, G. / Fallmann, W. / Grasserbauer, M. et al. | 1984
- 861
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Tiefenprofilanalysen und TEM-Querschnitte von Tantalsilicid-Polysilicium-DoppelschichtenCriegern, R. v. / Hillmer, T. / Huber, V. / Oppolzer, H. / Weitzel, I. et al. | 1984
- 867
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Auger-Elektronen-Spektroskopie an Ge:III-V(110) HeteroübergängenKoenders, L. / Gant, H. / Murschall, R. / Mönch, W. et al. | 1984
- 872
-
ESCA-Untersuchung der Oxidation von III-V-VerbindungshalbleiternSasse, Hans-Eckard / König, Ulf et al. | 1984
- 877
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Characterization of native and heterooxide layers on compound semiconductors by combined use of surface analysis methodsKaiser, U. / Sander, P. / Ganschow, O. / Benninghoven, A. et al. | 1984
- A15
-
Neue Geräte und Chemikalien| 1984