The analysis of the electronic devices substrates roughness testing methods.
Анализ методов контроля шероховатости подложек для изделий электронной техники.
Аналіз методів контролю шорсткості підкладок для виробів електронної техніки
(Russian)
Free access
- New search for: Невлюдов, Игорь Шакирович
- New search for: Жарикова, Ирина Владимировна
- New search for: Перепелица, Иван Дмитриевич
- New search for: Резниченко, Алексей Георгиевич
- New search for: Невлюдов, Игорь Шакирович
- New search for: Жарикова, Ирина Владимировна
- New search for: Перепелица, Иван Дмитриевич
- New search for: Резниченко, Алексей Георгиевич
- Article (Journal) / Electronic Resource
-
Title:The analysis of the electronic devices substrates roughness testing methods.
Анализ методов контроля шероховатости подложек для изделий электронной техники.
Аналіз методів контролю шорсткості підкладок для виробів електронної техніки -
Contributors:Невлюдов, Игорь Шакирович ( author ) / Жарикова, Ирина Владимировна ( author ) / Перепелица, Иван Дмитриевич ( author ) / Резниченко, Алексей Георгиевич ( author )
-
Published in:
-
Publisher:
- New search for: РС ТЕСHNOLOGY СЕNTЕR
-
Publication date:2014-04-15
-
Remarks:Eastern-European Journal of Enterprise Technologies; Vol. 2 No. 5(68) (2014): Applied physics; 25-30
-
ISSN:
-
Type of media:Article (Journal)
-
Type of material:Electronic Resource
-
Language:Russian
-
Keywords:
-
Source:
Metadata by SPU is licensed under CC BY 3.0