Zur Aussageschärfe konventioneller EMV-Störfestigkeitsprüfverfahren mit pulsförmigen Prüfstörgrößen aus wahrscheinlichkeitstheoretischer Sicht (German)
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In:
Elektrie
;
47
, 5
;
178-182
;
1993
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ISSN:
- Article (Journal) / Print
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Title:Zur Aussageschärfe konventioneller EMV-Störfestigkeitsprüfverfahren mit pulsförmigen Prüfstörgrößen aus wahrscheinlichkeitstheoretischer Sicht
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Additional title:Probabilistic considerations on the reliabilty of conventional EMC immunity tests with pulsed test voltages
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Contributors:Habiger, E. ( author )
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Published in:Elektrie ; 47, 5 ; 178-182
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Publisher:
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Publication date:1993
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Size:5 Seiten, 5 Bilder, 8 Quellen
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ISSN:
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Type of media:Article (Journal)
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Type of material:Print
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Language:German
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Keywords:EMV (elektromagnetische Verträglichkeit) , Störspannung , Störquelle , Störsicherheit , Prüfverfahren , IEC (International Electrotechnical Commission) , elektrostatische Entladung , statistische Analyse , Wahrscheinlichkeitstheorie , elektronisches Gerät , Fehlerwahrscheinlichkeit , Fehlerhäufigkeit
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Source:
Table of contents – Volume 47, Issue 5
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Leitartikel| 1993
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Das neue Störfestigkeitsmelssverfahren nach IEC 801-5 zur Beeinflussung elektrischer und elektronischer Geräte durch energiereiche Impulse im Mikrosekundenbereich (SUGRE)Möhr, D. et al. | 1993
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Zur Aussageschärfe konventioneller EMV-Störfestigkeitsprüfverfahren mit pulsförmigen Prüfstörgrößen aus wahrscheinlichkeitstheoretischer SichtHabiger, E. et al. | 1993
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Zur Aussageschaerfe konventioneller EMV-Stoerfestigkeitspruefverfahren mit pulafoermigen Pruefstoergroessen aus wahrscheinlichkeitstheoretischer SichtHabiger, E. et al. | 1993
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