Selbstreparatur durch Regularisierung von Logik-Strukturen (German)
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In:
Zuverlässigkeit und Entwurf
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7
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2009
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ISBN:
- Conference paper / Electronic Resource
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Title:Selbstreparatur durch Regularisierung von Logik-Strukturen
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Contributors:
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Conference:Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung ; 2009 ; Stuttgart, Germany
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Published in:GMM-Fachbericht ; 61 ; 7
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Publisher:
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Publication date:2009-01-01
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Size:7 pages
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ISBN:
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Type of media:Conference paper
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Type of material:Electronic Resource
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Language:German
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Source:
Table of contents conference proceedings
The tables of contents are generated automatically and are based on the data records of the individual contributions available in the index of the TIB portal. The display of the Tables of Contents may therefore be incomplete.
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Comparison of 4 Reliability Prediction Approaches for realistic failure rates of electronic parts required for Safety & Reliability AnalysisHoppe, Wolfgang / Schwederski, Patrick et al. | 2009
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Anwendungsbezogene Analyse der Robustheit von Digitalen SchaltungenSülflow, André / Frehse, Stefan / Fey, Görschwin / Drechsler, Rolf et al. | 2009
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Selbstreparatur durch Regularisierung von Logik-StrukturenKoal, T. / Scheit, D. / Vierhaus, H. T. et al. | 2009
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Analyse und Optimierung von fehlertoleranten Eingebetteten Systemen mit gehärteten ProzessorenIzosimov, Viacheslav / Polian, Ilia / Pop, Paul / Eles, Petru / Peng, Zebo et al. | 2009
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Basic design challenges for logical gates using non-standard technologies or circuit concept approachesAmar, Ahmed / Glauert, Wolfram H. et al. | 2009
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Techniken zur nachweislich vollständigen Verifikation von komplexen Schaltungen – neue Ansätze und ErfahrungenFormann, Johannes / Kimmeskamp, Thorsten / Echtle, Klaus / Tappe, Dominik / Weinberger, Katharina / Bulach, Slava / Mittag, Maximilian et al. | 2009
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Test in der ProduktentwicklungEngleitner, Sven et al. | 2009
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Walshfunktionen für das Testen von Mixed-Signal SchaltungenTchegho, Aurelien / Gräb, Helmut / Sattler, Sebastian et al. | 2009
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Alterungsanalyse digitaler Schaltungen auf GatterebeneLorenz, Dominik / Georgakos, Georg / Schlichtmann, Ulf et al. | 2009
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Metric-Driven Validation and Verification of Software for Embedded SystemsWinterholer, Markus et al. | 2009
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Statistische Parasitics-Extraktion und Crosstalk-NoiseHeinig, Andy / Sohrmann, Christoph et al. | 2009
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Logisch-statistische Simulation mit Temperatur- und Spannungskartierung zur Vorhersage von Variations- und AlterungseffektenHelms, Domenik / Hylla, Kai, / Nebel, Wolfgang et al. | 2009
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Robustheitsanalyse stark fehlersicherer Schaltungen mit SAT-basierter TestmustererzeugungHunger, Marc / Hellebrand, Sybille / Czutro, Alexander / Polian, Ilia / Becker, Bernd et al. | 2009
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XP-SISR: Eingebaute Selbstdiagnose f ür Schaltungen mit PrüfpfadElm, Melanie / Wunderlich, Hans-Joachim et al. | 2009
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Neue Herausforderungen an die Verdrahtungsvorhersage beim 3D-LayoutentwurfMeister, Tilo / Lienig, Jens et al. | 2009
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Degradierbare Switches für fehlertolerante Networks-on-ChipKohler, Adan / Radetzki, Martin et al. | 2009
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Verbesserung der Strahlentoleranz von FPGAs für Experimente der HochenergiephysikGebelein, Jano / Engel, Heiko / Kebschull, Udo et al. | 2009
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Design for reliability of analog circuits in nanometer CMOS technologyGielen, Georges / Maricau, Elie / Wit, Pieter De et al. | 2009
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Laser Scanner Lokalisierungsmethode für die schnelle Analyse von DRAM KomponentenVersen, Martin / Schramm, Achim / Schnepp, Jan / Hoch, Sascha / Vikas, Tapan / Diaconescu, Dorina et al. | 2009
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Entwurfsmethodik für einen Multi-Design-Rule Via-TestchipKohlert, D. / Holmer, R. et al. | 2009
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Automatische Generierung hierarchischer Platzierungsregeln für analoge integrierte SchaltungenEick, M. / Strasser, M. / Gräb, H. / Schlichtmann, U. et al. | 2009
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Neue Teststrukturen zur Messung von Matching und Alterung an MOS-TransistorenMeister, Michael / Nuernbergk, Dirk et al. | 2009
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Increasing Test Quality and Device Reliability by Test SimulationLu, Ping / Glaser, Daniel / Uygur, Guerkan / Weichslgartner, Susanne / Helmreich, Klaus / Lechner, Armin et al. | 2009
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Optimales, skalierbares Ressourcenmanagement für modulare, gemischt analog-digitale TestsystemeUygur, Gürkan / Lu, Ping / Glaser, Daniel / Weichslgartner, Susanne / Helmreich, Klaus / Sattler, Sebastian / Lechner, Armin / Brenneke, Andreas et al. | 2009
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Entwurfsregeln für integrierte SRAM Speicher zur Unterdrückung von Multi-Bit Fehlern in sub-100nm CMOS TechnologienGeorgakos, Georg / Borucki, Ludger / Gawlina, Yvonne et al. | 2009
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Zero Defect: Anforderungen an Prozesse und IT-Systeme oder: Zuverlässigkeit durch Entwurf, notwendig aber nicht hinreichendMontino, Ralf et al. | 2009